Markus Kratzer
Publikationen
- 2013
- Veröffentlicht
Elektrostatische Trennung in der Rohstoffverarbeitung - Bestandsaufnahme, Herausforderungen und Ausblick
Flachberger, H., Mirkowska, M., Oberrauner, A., Geißler, T., Kratzer, M. & Teichert, C., 2013, Rohstoffe sind Zukunft. S. 349-369Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
- Veröffentlicht
Kelvin probe force microscopy investigations of the contact charging of single crystalline insulators
Mirkowska, M., Kratzer, M., Teichert, C. & Flachberger, H., 2013.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Photoresponse from single upright standing ZnO nanorods explored by photoconductive atomic force microscopy
Beinik, I., Kratzer, M., Teichert, C., Wachauer, A., Wang, L., Pyriatinsky, Y. P., Brauer, G., Chen, X. Y., Hsu, Y. F. & Djurisic, A., 2013, in: Beilstein journal of nanotechnology . 4, S. 208-217Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Temperature dependent growth morphologies of parahexaphenyl on SiO2 supported exfoliated graphene
Kratzer, M., Klima, S., Teichert, C., Gajić, R., Vasić, B., Matković, A. & Ralevic, U., 2013, in: Journal of vacuum science & technology / B (JVST). 31, S. 04D114-1-04D114-7Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- 2012
- Veröffentlicht
Erratum: Electrical properties of ZnO nanorods studied by conductive atomic force microscopy (Journal of Applied Physics (2011) 110 (052005))
Beinik, I., Kratzer, M., Wachauer, A., Wang, L., Lechner, R., Teichert, C., Motz, C., Anwand, W., Brauer, G., Chen, X. Y., Hsu, Y. F. & Djurišić, A. B., 1 Okt. 2012, in: Journal of applied physics. 112.2012, 7, 1 S., 079903.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Entscheidungsbesprechung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Dynamic plowing lithography and 6P thin film growth on graphene investigated by atomic force microscopy
Kratzer, M., Klima, S., Vasić, B., Gajić, R., Matković, A., Ralević, U. & Teichert, C., 2012.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Electrical and photovoltaic properties of self assembled Ge nanodomes on Si(001)
Kratzer, M., Prehal, C., Rubezhanska, M., Beinik, I., Kondratenko, S., Kozyrev, Y. & Teichert, C., 2012, in: Physical review : B, Condensed matter and materials physics. 86, S. 245320-1-245320-7Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Growth of para-hexaphenyl thin films on graphene:an AFM study
Kratzer, M., Klima, S., Vasić, B., Gajić, R., Matković, A., Ralević, U. & Teichert, C., 2012.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
The contact charging of insulators by atomic force microscopy
Mirkowska, M., Kratzer, M., Teichert, C. & Flachberger, H., 2012.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
UV-Induced Modulation of the Conductivity of Polyaniline: Towards a Photo-Patternable Charge Injection Layer for Structured Organic Light Emitting Diodes
Grießer, T., Radl, S. V., Köpplmayr, T., Wolfberger, A., Edler, M., Pavitschitz, A., Kratzer, M., Teichert, C., Rath, T., Trimmer, G., Schwabegger, C., Simbrunner, C., Sitter, H. & Kern, W., 2012, in: Journal of materials chemistry. 22, S. 2922-2928Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
