Kelvin probe force microscopy investigations of the contact charging of single crystalline insulators

Publikationen: KonferenzbeitragPosterForschung(peer-reviewed)

Details

Titel in ÜbersetzungKelvin probe force microscopy investigations of the contact charging of single crystalline insulators
OriginalspracheEnglisch
StatusVeröffentlicht - 2013
VeranstaltungAnnual Meeting of German Physical Society (DPG) - Regensburg, Deutschland
Dauer: 12 März 201314 März 2013

Konferenz

KonferenzAnnual Meeting of German Physical Society (DPG)
Land/GebietDeutschland
OrtRegensburg
Zeitraum12/03/1314/03/13