Kelvin probe force microscopy investigations of the contact charging of single crystalline insulators
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Details
Titel in Übersetzung | Kelvin probe force microscopy investigations of the contact charging of single crystalline insulators |
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Originalsprache | Englisch |
Status | Veröffentlicht - 2013 |
Veranstaltung | Annual Meeting of German Physical Society (DPG) - Regensburg, Deutschland Dauer: 12 März 2013 → 14 März 2013 |
Konferenz
Konferenz | Annual Meeting of German Physical Society (DPG) |
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Land/Gebiet | Deutschland |
Ort | Regensburg |
Zeitraum | 12/03/13 → 14/03/13 |