Jozef Keckes
Publikationen
- 2011
- Veröffentlicht
Temperature induced structural gradients in multilayer coatings revealed by position resolved XRR and GISAXS
Maier, G., Kreith, J., Chitu, L., Siffalovic, P., Michaelsen, C. & Keckes, J., 2011.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
µLaue: Compression studies on miniaturised Copper single crystals
Kirchlechner, C., Kapp, M., Motz, C., Grosinger, W., Keckes, J., Micha, J-S., Ulrich, O. & Dehm, G., 2011.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- 2010
- Veröffentlicht
3D strain imaging in sub-micrometer crystals using cross-reciprocal space measurements: Numerical feasibility and experimental methodology
Vaxelaire, N., Labat, S., Chamard, V., Thomas, O., Jaques, V., Picca, F., Ravy, S., Kirchlechner, C. & Keckes, J., 2010, in: Nuclear instruments & methods in physics research / B Beam interactions with materials and atoms. S. 388-393Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Development of intrinsic and thermal components of residual stress in nanostructured thin films: Grain size dependent phenomena
Daniel, R., Keckes, J. & Mitterer, C., 2010, Proceedings 8th European Conference on Residual Stresses. S. 15-15Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
- Veröffentlicht
Effect of Grain Size on the Residual Stress State and Thermal Expansion in Magnetron Sputtered Thin Films
Daniel, R., Holec, D., Keckes, J. & Mitterer, C., 2010, Proceedings 37th International Conference on Metallurgical Coatings and Thin Films. S. 63-63Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
- Veröffentlicht
In situ μLaue tensile tests on micron sized Cu single crystals
Kirchlechner, C., Imrich, P., Grosinger, W., Kapp, M., Motz, C., Keckes, J. & Dehm, G., 2010.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Methodology for studying strain inhomogeneities in polycrystalline thin films during in situ thermal loading using coherent x-ray diffraction
Vaxelaire, N., Proudhon, H., Labat, S., Kirchlechner, C., Keckes, J., Jaques, V., Ravy, S., Forest, S. & Thomas, O., 2010, in: New journal of physics. S. 1-12Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Nano-Beam X-ray Diffraction Reveals Structural and Mechanical Gradients in Nano-Crystalline Thin Films
Keckes, J., Bartosik, M., Daniel, R., Mitterer, C., Maier, G., Schoeder, S. & Burghammer, M., 2010.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Residual stresses and thermal fatigue in CrN hard coatings characterized by high-temperature synchrotron X-ray diffraction
Kirchlechner, C., Martinschitz, K. J., Daniel, R., Klaus, M., Genzel, C., Mitterer, C. & Keckes, J., 2010, in: Thin solid films. 518, 8, S. 2090-2096Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Review: current international research into cellulose nanofibres and nanocomposites
Keckes, J., Eichhorn, S. J., Dufresne, A., Aranguren, M., Marcovich, N. E., Capadona, J. R., Rowan, S. J., Weder, C., Thielemans, W., Roman, M., Renneckar, S., Gindl, W., Veigel, S., Yano, H., Abe, K., Nogi, M. & Nakagaito, A. N., 2010, in: Journal of materials science. S. 1-33Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
