Jozef Keckes
Publikationen
- Veröffentlicht
µLaue: Compression studies on miniaturised Copper single crystals
Kirchlechner, C., Kapp, M., Motz, C., Grosinger, W., Keckes, J., Micha, J.-S., Ulrich, O. & Dehm, G., 2011.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Zukunftsfonds Land Steiermark, Projekt Nr. 119
Eiper, E., Keckes, J. & Pippan, R., 2006Publikationen: Buch/Bericht › Forschungsbericht › Transfer › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Zerstörungsfreie Charakterisierung von Furnieren für strukturelle Verbundwerkstoffe: Evaluierung von Methoden und Einflussfaktoren Maximilian
Pramreiter, M., Bodner, S. C., Keckes, J., Stadlmann, A., Konnerth, J., Feist, F., Baumann, G., Huber, C. & Müller, U., 2021, in: Holztechnologie. 62.2021, 1, S. 5-18 13 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
X-ray nanodiffraction reveals stress distribution across an indented multilayered CrN-Cr thin film
Steffenelli, M., Daniel, R., Ecker, W., Kiener, D., Todt, J., Zeilinger, A., Mitterer, C., Burghammer, M. & Keckes, J., 2015, in: Acta materialia. 85, S. 24-31Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
X-ray nanodiffraction reveals strain and microstructure evolution in nanocrystalline thin films
Keckes, J., Bartosik, M., Daniel, R., Mitterer, C., Maier, G. A., Ecker, W., Vila-Comamala, J., David, C., Schoeder, S. & Burghammer, M., 2012, in: Scripta materialia. 67, S. 748-751Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
X-ray nanodiffraction analysis of stress oscillations in a W thin film on through-silicon via
Todt, J., Hammer, H., Sartory, B., Burghammer, M., Kraft, J., Daniel, R., Keckes, J. & Defregger, S., 2016, in: Journal of applied crystallography. 49, S. 182-187 6 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Elektronische Veröffentlichung vor Drucklegung.
X-ray nanodiffraction analysis of residual stresses in polysilicon electrodes of vertical power transistors
Karner, S., Blank, O., Rösch, M., Burghammer, M., Zalesak, J., Keckes, J. & Todt, J., 20 Juni 2022, (Elektronische Veröffentlichung vor Drucklegung.) in: Materialia. 24.2022, August, 6 S., 101484.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
X-ray elastic constants determined by the combination of the sin² psi and substrate-curvature methods
Eiper, E., Martinschitz, K.-J., Gerlach, J. W., Lackner, J. M., Zizak, I., Darowski, N. & Keckes, J., 2005, in: Zeitschrift für Metallkunde : international journal of materials research and advanced techniques. 96, S. 1069-1073Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
X-ray diffraction analysis of three-dimensional residual stress fields reveals origins of thermal fatigue in uncoated and coated steel
Kirchlechner, C., Martinschitz, K. J., Daniel, R., Mitterer, C., Donges, J., Rothkirch, A., Klaus, M., Genzel, C. & Keckes, J., 2010, in: Scripta materialia. 62, S. 774-777Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
X-ray analysis of residual stress gradients in TiN coatings by a Laplace space approach and cross-sectional nanodiffraction: a critical comparison
Steffenelli, M., Todt, J., Riedl, A., Ecker, W., Müller, T., Daniel, R., Burghammer, M. & Keckes, J., 2013, in: Journal of applied crystallography. 46, S. 1-8Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
