X-ray nanodiffraction reveals strain and microstructure evolution in nanocrystalline thin films

Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

Autoren

  • Günther Alois Maier
  • J. Vila-Comamala
  • C. David
  • Sebastian Schoeder
  • M. Burghammer

Externe Organisationseinheiten

  • Materials Center Leoben Forschungs GmbH

Details

Titel in ÜbersetzungX-ray nanodiffraction reveals strain and microstructure evolution in nanocrystalline thin films
OriginalspracheEnglisch
Seiten (von - bis)748-751
FachzeitschriftScripta materialia
Jahrgang67
DOIs
StatusVeröffentlicht - 2012