Jozef Keckes
Publikationen
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20 kHz X-ray diffraction on Cu thin films explores thermomechanical fatigue at high strain-rates
Ziegelwanger, T., Reisinger, M., Vedad, B., Hlushko, K., Van Petegem, S., Todt, J., Meindlhumer, M. & Keckes, J., 31 Jan. 2025, in: Materials and Design. 251.2025, March, 9 S., 113664.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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30 nm X-ray focusing correlates oscillatory stress, texture and structural defect gradients across multilayered Ti N-SiOx thin film
Keckes, J., Daniel, R., Todt, J., Zalesak, J., Sartory, B., Braun, S., Gluch, J., Rosenthal, M., Burghammer, M. C., Mitterer, C., Niese, S. & Kubec, A., 2018, in: Acta materialia. 144, S. 862-873Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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3D strain imaging in sub-micrometer crystals using cross-reciprocal space measurements: Numerical feasibility and experimental methodology
Vaxelaire, N., Labat, S., Chamard, V., Thomas, O., Jaques, V., Picca, F., Ravy, S., Kirchlechner, C. & Keckes, J., 2010, in: Nuclear instruments & methods in physics research / B Beam interactions with materials and atoms. S. 388-393Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Ab initio molecular dynamics model for density, elastic properties and short range order of Co–Fe–Ta–B metallic glass thin films
Hostert, C., Music, D., Bednarcik, J., Keckes, J., Kapaklis, V., Hjövarsson, B. & Schneider, J. M., 2011, in: European physical journal B, Condensed matter physics : EPJ B. S. 4754011-4754017Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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A cantilever method to determine depth profiles of residual stresses on the nanoscale
Massl, S., Keckes, J. & Pippan, R., 2006.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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A combinatorial X-ray sub-micron diffraction study of microstructure, residual stress and phase stability in TiAlN coatings
Riedl, A., Daniel, R., Todt, J., Steffenelli, M., Holec, D., Sartory, B., Krywka, C., Müller, M., Mitterer, C. & Keckes, J., 2014, in: Surface & coatings technology. 257, S. 108-113Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Actual versus apparent within cell wall variability of nanoindentation results from wood cell walls related to cellulose microfibril angle
Konnerth, J., Gierlinger, N., Keckes, J. & Gindl, W., 2009, in: Journal of materials science. 44, S. 4399-4406Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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A direct method of determining complex depth profiles of residual stresses in thin films on a nanoscale
Massl, S., Keckes, J. & Pippan, R., 2007, in: Acta materialia. 55, S. 4835-4844Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Advanced characterization methods for wear resistant hard coatings: A review on recent progress
Tkadletz, M., Schalk, N., Daniel, R., Keckes, J., Czettl, C. & Mitterer, C., 2016, in: Surface & coatings technology. 285, S. 31-46 16 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Advanced cross-sectional characterization of hard coatings
Tkadletz, M., Mitterer, C., Keckes, J., Rebelo De Figueiredo, M., Hosemann, P., Burghammer, M., Sartory, B. & Czettl, C., 2013.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
