Jozef Keckes
Publikationen
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Origins of microstructure and stress gradients in nanocrystalline thin films: The role of growth parameters and self-organization
Daniel, R., Keckes, J., Matko, I., Burghammer, M. & Mitterer, C., 2013, in: Acta materialia. 61, S. 6255-6266Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Microstructural evolution during growth of polycrystallin CrN coatings: The role of a Cr interlayer
Daniel, R., Martinschitz, K. J., Keckes, J. & Mitterer, C., 2009.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Stress design of hard coatings
Daniel, R., Keckes, J. & Mitterer, C., 2011, Proceeding of International Conference on Metallurgical Coatings and Thin Films. S. 55-55Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
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Development of texutre in polycrystalline CrN coatings: The role of a Cr interlayer
Daniel, R., Martinschitz, K. J., Keckes, J. & Mitterer, C., 2007.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Development of intrinsic and thermal components of residual stress in nanostructured thin films: Grain size dependent phenomena
Daniel, R., Keckes, J. & Mitterer, C., 2010, Proceedings 8th European Conference on Residual Stresses. S. 15-15Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
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Influence of Interlayer Thickness on Mechanical Properties of a Cr/CrN Dual Layer Coating System: Structure-Property Relations
Daniel, R., Herrmann, M., Richter, F., Keckes, J. & Mitterer, C., 2006, 10th International Conference on Plasma Surface Engineering. S. 185-185Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
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Microstructure related stress state in magnetron sputtered thin films
Daniel, R., Martinschitz, K., Keckes, J. & Mitterer, C., 2009, Proceedings E-MRS Spring Meeting. S. 25-25Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
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The origin of stresses in magnetron-sputtered thin films with zone T structures
Daniel, R., Martinschitz, K., Keckes, J. & Mitterer, C., 2010, in: Acta materialia. 58, S. 2621-2633Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Structure related stress gradients in thin nanocrystalline films revealed by X-ray nanodiffraction
Daniel, R., Keckes, J. & Mitterer, C., 2012.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Effect of Grain Size on the Residual Stress State and Thermal Expansion in Magnetron Sputtered Thin Films
Daniel, R., Holec, D., Keckes, J. & Mitterer, C., 2010, Proceedings 37th International Conference on Metallurgical Coatings and Thin Films. S. 63-63Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
