Jakub Zalesak
(Ehemalig)
Publikationen
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Combinatorial refinement of thin-film microstructure, properties and process conditions: Iterative nanoscale search for self-assembled TiAlN nanolamellae
Zalesak, J., Todt, J., Pitonak, R., Köpf, A., Weißenbacher, R., Sartory, B., Burghammer, M., Daniel, R. & Keckes, J., 2016, in: Journal of applied crystallography. 49, 6, S. 2217-2225 9 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Elektronische Veröffentlichung vor Drucklegung.
Peculiarity of self-assembled cubic nanolamellae in the TiN/AlN system: Epitaxial self-stabilization by element deficiency/excess
Zalesak, J., Holec, D., Matko, I., Petrenec, M., Sartory, B., Koutna, N., Daniel, R., Pitonak, R. & Keckes, J., 5 Apr. 2017, (Elektronische Veröffentlichung vor Drucklegung.) in: Acta materialia. 131.2017, 1 June, S. 391-399 9 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Structural and Mechanical Gradients in Nanostructured Thin Films
Zalesak, J., 2017Publikationen: Thesis / Studienabschlussarbeiten und Habilitationsschriften › Dissertation
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Silver nanoparticles sintering at low temperature on a copper substrate: In situ characterisation under inert atmosphere and air
Zalesak, J., 2012, in: Journal of Mining and Metallurgy, Section B: Metallurgy. 48, 1, S. 63-71 9 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Effect of pressure and temperature on microstructure of self-assembled gradient AlxTi1−XN coatings
Zalesak, J., Todt, J., Michalička, J., Sartory, B., Matko, I., Lessiak, M., Traxler, M., Weißenbacher, R., Pitonak, R., Gammer, C. & Keckes, J., 3 Apr. 2021, in: Coatings. 11.2021, 4, 15 S., 416.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Backside metallization affects residual stress and bending strength of the recast layer in laser-diced Si
Ziegelwanger, T., Reisinger, M., Matoy, K., Medjahed, A. A., Zalesak, J., Gruber, M., Meindlhumer, M. & Keckes, J., Okt. 2024, in: Materials Science in Semiconductor Processing. 181, 108579.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)