Gerhard Dehm

(Ehemalig)

Publikationen

  1. Veröffentlicht

    Structural characterization of a Cu/MgO(001) interface using CS-corrected HRTEM

    Cazottes, S., Zhang, Z., Daniel, R., Chawla, J. S., Gall, D. & Dehm, G., 2010, in: Thin solid films. 519, S. 1662-1667

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  2. Veröffentlicht

    Structural characterization of a Cu/MgO(001) interface using C S-corrected HRTEM

    Cazottes, S., Zhang, Z. L., Daniel, R., Chawla, J. S., Gall, D. & Dehm, G., 2010, in: Thin solid films.

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  3. Veröffentlicht

    Stress, Sheet Resistance, and Microstructure Evolution of Electroplated Cu Films During Self-Annealing

    Huang, R., Robl, W., Ceric, H., Detzel, T. & Dehm, G., 2010, in: IEEE transactions on device and materials reliability. 10, 1, S. 47-54

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  4. Veröffentlicht
  5. Veröffentlicht

    Strain energy effects on texture evolution in thin films: biaxial vs. uniaxial stress state

    Sonnweber-Ribic, P., Dehm, G., Gruber, P. & Arzt, E., 2006, Proceedings of the Amereican Institute of Physics Conference "Stress-Induced Phenomena in Metallization". S. 192-197

    Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in Konferenzband

  6. Veröffentlicht

    Strain Compensation by Twinning in Au Thin Films: Experimental and Model

    Dehm, G., Oh, S. H., Gruber, P., Legros, M. & Fischer, F. D., 2007, in: Acta materialia. 55, S. 6659-6665

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  7. Veröffentlicht

    Size-Induced Transition from Perfect to Partial Dislocation Plasticity in Single Crystal Au Films on Polyimide

    Oh, S. H., Legros, M., Kiener, D., Gruber, P. A. & Dehm, G., 2007, in: Microscopy and microanalysis. 13, S. 278-279

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  8. Veröffentlicht

    Size-independent stresses in Al thin films thermally strained down to -100°C

    Eiper, E., Keckes, J., Zizak, I., Cabie, M. & Dehm, G., 2007, in: Acta materialia. 55, S. 1941-1946

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  9. Veröffentlicht

    Size effect in metallic thin films characterized by low-temperature X-ray diffraction

    Eiper, E., Martinschitz, K. J., Dehm, G. & Keckes, J., 2006.

    Publikationen: KonferenzbeitragPosterForschung(peer-reviewed)

  10. Veröffentlicht

    Size effect in metallic thin films characterized by low-temperature X-ray diffraction

    Eiper, E., Martinschitz, K. J., Dehm, G. & Keckes, J., 2006.

    Publikationen: KonferenzbeitragPosterForschung(peer-reviewed)