Gerhard Dehm
(Ehemalig)
Publikationen
- 2010
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In situ μLaue tensile tests on micron sized Cu single crystals
Kirchlechner, C., Imrich, P., Grosinger, W., Kapp, M., Motz, C., Keckes, J. & Dehm, G., 2010.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Investigation of the fatigue behavior of Al thin films with different microstructure
Dehm, G., Heinz, W. & Pippan, R., 2010, in: Materials science and engineering: A, Structural materials: properties, microstructure and processing. S. 7757-7763Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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KKKÖ Meeting
Dehm, G., 2010Publikationen: Buch/Bericht › Forschungsbericht › Transfer › (peer-reviewed)
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Laying the groundwork - The search for damage resistant materials
Dehm, G., 2010, in: Public service review: European science & technology : an independent reviewPublic Service Review. 5, S. 76-77Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Micron-sized fracture experiments on amorphous SiOx films and SiOx/SiNx multi-layers
Matoy, K., Schönherr, H., Detzel, T. & Dehm, G., 2010, in: Thin solid films. 518, S. 5796-5801Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Microplasticity phenomena in thermomechanically strained nickel thin films
Taylor, A., Oh, S. H. & Dehm, G., 2010, in: Journal of materials science. 45, S. 3874-3881Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Stress, Sheet Resistance, and Microstructure Evolution of Electroplated Cu Films During Self-Annealing
Huang, R., Robl, W., Ceric, H., Detzel, T. & Dehm, G., 2010, in: IEEE transactions on device and materials reliability. 10, 1, S. 47-54Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Structural characterization of a Cu/MgO(001) interface using C S-corrected HRTEM
Cazottes, S., Zhang, Z. L., Daniel, R., Chawla, J. S., Gall, D. & Dehm, G., 2010, in: Thin solid films.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Structural characterization of a Cu/MgO(001) interface using CS-corrected HRTEM
Cazottes, S., Zhang, Z., Daniel, R., Chawla, J. S., Gall, D. & Dehm, G., 2010, in: Thin solid films. 519, S. 1662-1667Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Study of nanometer-scaled lamellar microstructure in a Ti-45Al-7.5Nb alloy-Experiments and modeling
Fischer, F. D., Waitz, T., Scheu, C., Cha, L., Dehm, G., Antretter, T. & Clemens, H., 2010, in: Intermetallics. 18, S. 509-517Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
