Fahimeh Saghaeian

(Ehemalig)

Publikationen

  1. 2019
  2. Elektronische Veröffentlichung vor Drucklegung.

    Microstructure and stress gradients in TiW thin films characterized by 40 nm X-ray diffraction and transmission electron microscopy

    Saghaeian, F., Keckes, J., Woehlert, S., Rosenthal, M., Reisinger, M. & Todt, J., 14 Okt. 2019, (Elektronische Veröffentlichung vor Drucklegung.) in: Thin solid films. 691.2019, 1 December, 7 S., 137576.

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  3. Veröffentlicht