Department Physik, Mechanik und Elektrotechnik
Organisation: Departments and Institute
Publikationen
- Veröffentlicht
Para-Sexiphenyl thin films on KCl(001) substrates
Andreev, A., Hlawacek, G. & Teichert, C., 2005.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Para-Sexiphenyl Thin Films Grown by Hot Wall Epitaxy on KCI(001)substrates
Andreev, A., Montaigne, A., Hlawacek, G., Sitter, H. & Teichert, C., 2006, in: Journal of vacuum science & technology / A (JVST). 24, S. 1660-1663Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Conductive-AFM measurements on cross sectional samples
Andreev, A. & Teichert, C., 2005Publikationen: Buch/Bericht › Forschungsbericht › Transfer › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Para-sexiphenyl thin films grown on dielectric substrates
Andreev, A., Hou, Y., Hlawacek, G. & Teichert, C., 2006.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Nano-scale characterization of high-k dielectric materials by conducting atomic force microscopy
Andreev, A. & Teichert, C., 2005.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Coherent random lasing in the deep blue from self-assembled organic nanofibers
Andreev, A., Quochi, F., Cordella, F., Mura, A., Bongiovanni, G., Sitter, H., Hlawacek, G., Teichert, C. & Sariciftci, N. S., 2006, in: Journal of applied physics. 99, S. 034305-1-034305-6Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Characterization of semiconducting nanorods by AFM and conducting AFM
Andreev, A., Hou, Y. & Teichert, C., 2006.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Morphology and growth kinetic of organic thin films deposited by hot wall epitaxy
Andreev, A., Teichert, C., Hlawacek, G., Hoppe, H., Resel, R., Smilgies, D.-M., Sitter, H. & Sariciftci, N. S., 2004, in: Organic electronics. 5, S. 23-27Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Elektronische Veröffentlichung vor Drucklegung.
Curvature determination of embedded silicon chips by in situ rocking curve X-ray diffraction measurements at elevated temperatures
Angerer, P., Schöngrundner, R., Macurova, K., Wießner, M. & Keckes, J., 28 Sept. 2016, (Elektronische Veröffentlichung vor Drucklegung.) in: Powder diffraction. 31.2016, 4, S. 267-273 7 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
A numerical model for Transformation Induced Plasticity (TRIP)
Antretter, T., Fischer, F. D. & Cailletaud, G., 1 Dez. 2004, in: Journal de physique / 4. 115, S. 233-241 9 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
