Department Physik, Mechanik und Elektrotechnik
Organisation: Departments and Institute
Publikationen
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Electrical monitoring of organic crystal phase transition using MoS2 field effect transistor
Boulet, I., Pascal, S., Bedu, F., Ozerov, I., Ranguis, A., Leoni, T., Becker, C., Masson, L., Matkovic, A., Teichert, C., Siri, O., Attaccalite, C., Huntzinger, J. R., Paillet, M., Zahab, A. & Parret, R., 14 Feb. 2023, in: Nanoscale advances. 5.2023, 6, S. 1681-1690 10 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Non-destructive characterization of vertical ZnO nanowire arrays by slow positron implantation spectroscopy, atomic force microscopy, and nuclear reaction analysis
Brauer, G., Anwand, W., Grambole, D., Skorupa, W., Hou, Y., Andreev, A., Teichert, C., Tam, K. H. & Djurisic, A. B., 2007, in: Nanotechnology. 18, S. 195301-1-195301-8Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Characterization of a SiC/SiC composite by X-ray diffraction, atomic force microscopy and positron spectroscopies
Brauer, G., Anwand, W., Eichhorn, E., Skorupa, W., Hofer, C., Teichert, C., Kuriplach, J., Cizek, J., Prochazka, I., Coleman, P. G., Nozawa, T. & Kohyama, A., 2006, in: Applied surface science. 252, S. 3342-3351Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Characterization of ZnO nanostructures: A challenge to positron annihilation spectroscopy and other methods
Brauer, G., Anwand, W., Grambole, D., Beinik, I., Wang, L., Teichert, C., Kuriplach, J., Djurisic, A. & Skorupa, W., 2009, in: Physica status solidi / C. 6, S. 2556-2560Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Characterization of 6H-SiC surfaces after ion implantation and annealing using positron annihilation spectroscopy and atomic force microscopy
Brauer, G., Anwand, W., Skorupa, W., Brandstetter, S. & Teichert, C., 2006, in: Journal of applied physics. 99, S. 023523-1-023523-8Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Thermal emissivity of carbon coated p-doped silicon stencil masks for ion projection lithography
Braun, D., Gajic, R., Kuchar, F., Korntner, R., Haugeneder, E., Löschner, H., Butschke, J., Letzkus, F. & Springer, R., 2003, in: Journal of vacuum science & technology / B (JVST). 21, S. 123-126Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Residual stress and microstructure evolution in steel tubes for different cooling conditions – Simulation and verification
Brunbauer, S., Winter, G., Antretter, T., Staron, P. & Ecker, W., 2019, in: Materials science and engineering: A, Structural materials: properties, microstructure and processing. 747, S. 73-79Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Aluminum oxide for an effective Schottky gate in Si / SiGe two
Brunner, R., 2010.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Microwave Investigations of Backscattering in Open Quantum Dots
Brunner, R., Meisels, R., Kuchar, F., Elhassan, M., Bird, J. P. & Ishibashi, K., 2002.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Draining of the sea of chaos: Role of resonant transmission and reflection in an array of billiards
Brunner, R., Meisels, R., Kuchar, F., Akis, R., Ferry, D. K. & Bird, J., 2007, in: Physical review letters. 98, S. 204101-1-204101-4Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)