Characterization of a SiC/SiC composite by X-ray diffraction, atomic force microscopy and positron spectroscopies

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Autoren

Titel in Übersetzung	Characterization of a SiC/SiC composite by X-ray diffraction, atomic force microscopy and positron spectroscopies
Originalsprache	Englisch
Seiten (von - bis)	3342-3351
Fachzeitschrift	Applied surface science
Jahrgang	252
DOIs	https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2005.08.096
Status	Veröffentlicht - 2006