Department Werkstoffwissenschaft
Organisation: Departments and Institute
Publikationen
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Zukunftsfonds Land Steiermark, Projekt Nr. 119
Eiper, E., Keckes, J. & Pippan, R., 2006Publikationen: Buch/Bericht › Forschungsbericht › Transfer › (peer-reviewed)
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Size-independent stresses in Al thin films thermally strained down to -100°C
Eiper, E., Keckes, J., Zizak, I., Cabie, M. & Dehm, G., 2007, in: Acta materialia. 55, S. 1941-1946Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Thermally-induced stresses in thin aluminum layers grown on silicon
Eiper, E., Resel, R., Eisenmenger-Sittner, C., Hafok, M. & Keckes, J., 2004, in: Powder diffraction. S. 74-76Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Anisotropic intrinsic and extrinsic stresses in gan thin film on LiAlO2 (100)
Eiper, E., Gerlach, J. W., Rauschenbach, B. & Keckes, J., 2004.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Temperature dependence of residual stresses in thin films determined by the substrate
Eiper, E., Martinschitz, K.-J., Köstenbauer, H., Massl, S. & Keckes, J., 2006.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Temperature dependence of residual stresses in thin films determined by the substrate curvatur method
Eiper, E., Martinschitz, K.-J., Köstenbauer, H., Massl, S. & Keckes, J., 2006.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Size effect in metallic thin films characterized by low-temperature X-ray diffraction
Eiper, E., Martinschitz, K. J., Dehm, G. & Keckes, J., 2006.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Anisotropic intrinsic and extrinsic stresses in epitaxial wurzitic GaN thin film on γ-LiAlO2 (100)
Eiper, E., Hofmann, A., Gerlach, J. W., Rauschenbach, B. & Keckes, J., 2005, in: Journal of crystal growth. 284, S. 561-566Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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X-ray elastic constants determined by the combination of the sin² psi and substrate-curvature methods
Eiper, E., Martinschitz, K.-J., Gerlach, J. W., Lackner, J. M., Zizak, I., Darowski, N. & Keckes, J., 2005, in: Zeitschrift für Metallkunde : international journal of materials research and advanced techniques. 96, S. 1069-1073Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Combined elastic strain and macroscopic stress characterization in polycrystalline Cu thin films
Eiper, E., Martinschitz, K.-J. & Keckes, J., 2006, in: Powder diffraction. 21, S. 25-29Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
