Recent developments in surface science and engineering, thin films, nanoscience, biomaterials, plasma science, and vacuum technology

Mozetic, M., Vesel, A., Primc, G., Eisenmenger-Sittner, C., Bauer, J., Eder, A., Schmid, G. H. S., Ruzic, D. N., Ahmed, Z., Barker, D., Douglass, K. O., Eckel, S., Fedchak, J. A., Hendricks, J., Klimov, N., Ricker, J., Scherschligt, J., Stone, J., Strouse, G. & Capan, I. &31 mehr, Buljan, M., Milosevic, S., Teichert, C., Cohen, S. R., Silva, A. G., Lehocky, M., Humpolicek, P., Rodriguez, C., Hernandez-Montelongo, J., Mercier, D., Manso-Silvan, M., Ceccone, G., Galtayries, A., Stana-Kleinschek, K., Petrov, I., Greene, J. E., Avila, J., Chen, C. Y., Caja-Munoz, B., Yi, H., Boury, A., Lorcy, S., Asensio, M. C., Bredin, J., Gans, T., O'Connell, D., Brendin, J., Reniers, F., Vincze, A., Anderle, M. & Montelius, L., 30 Aug. 2018, in: Thin solid films. 660, S. 120-160

Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Übersichtsartikel › (peer-reviewed)

Micron-sized fracture experiments on amorphous SiOx films and SiOx/SiNx multi-layers

Matoy, K., Schönherr, H., Detzel, T. & Dehm, G., 2010, in: Thin solid films. 518, S. 5796-5801

Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

A comparative micro-cantilever study of the mechanical behavior of silicon based passivation films

Matoy, K., Schönherr, H., Detzel, T., Schöberl, T., Pippan, R., Motz, C. & Dehm, G., 2009, in: Thin solid films. 518, S. 247-256

Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

Stress measurement in thin films with the ion beam layer removal method: Influence of experimental errors and parameters

Massl, S., Köstenbauer, H., Keckes, J. & Pippan, R., 2008, in: Thin solid films. 516, S. 8655-8662

Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

Effect of annealing on the size dependent deformation behavior of thin cobalt films on flexible substrates

Marx, V. M., Cordill, M., Többens, D., Kirchlechner, C. & Dehm, G., 10 Jan. 2017, (Elektronische Veröffentlichung vor Drucklegung.) in: Thin solid films. 624.2017, 28 February, S. 34-40 7 S.

Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

Stress evolution in CrN/Cr coating systems during thermal straining

Martinschitz, K. J., Daniel, R., Mitterer, C. & Keckes, J., 2008, in: Thin solid films. 516, S. 1972-1976

Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

Ion-assisted MBE for misfit-dislocation templates serving ordered growth of SiGe islands

Lyutovich, K., Oehme, M., Werner, J., Bahouchi, B., Kasper, E., Hofer, C. & Teichert, C., 2008, in: Thin solid films. 517, S. 20-22

Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

Effects of bias pulse frequencies on reactively sputter deposited NbO_x films

Lorenz, R., O`Sullivan, M., Fian, A., Sprenger, D., Lang, B. & Mitterer, C., 2018, in: Thin solid films. S. 335-342

Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

Interface structure of epitaxial (111) VN films on (111) MgO substrates

Lazar, P., Rashkova, B., Redinger, J., Podloucky, R., Mitterer, C., Scheu, C. & Dehm, G., 2008, in: Thin solid films. 517, S. 1177-1181

Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

Room temperature pulsed laser deposited (Ti,Al)CxN1-x coatings-chemical, structural, mechanical and tribological properties

Lackner, J. M., Waldhauser, W., Ebner, R., Bakker, R. J., Schöberl, T. & Major, B., 2004, in: Thin solid films. 468.2004, 1. December, S. 125-133 9 S.

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