Microelectronic engineering, ‎0167-9317

Fachzeitschrift: Zeitschrift

ISSNs0167-9317
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Publikationen

  1. Veröffentlicht

    Accelerated thermo-mechanical fatigue of copper metallizations studied by pulsed laser heating

    Wurster, S., Bigl, S., Cordill, M. & Kiener, D., 5 Jan. 2017, in: Microelectronic engineering. 167.2017, 5 January, S. 110-118 9 S.

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  2. Veröffentlicht

    A Networkmodel for the Hall Insulator

    Oswald, J., Homer, A. & Ganitzer, P., 1999, in: Microelectronic engineering. 47, S. 31-33

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  3. Elektronische Veröffentlichung vor Drucklegung.

    Buckle induced delamination techniques to measure the adhesion of metal dielectric interfaces

    Kleinbichler, A., Zechner, J. & Cordill, M., 2 Nov. 2016, (Elektronische Veröffentlichung vor Drucklegung.) in: Microelectronic engineering. 167.2017, 5 January, S. 63-68 6 S.

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  4. Veröffentlicht

    Influence of extreme thermal cycling on metal-polymer interfaces

    Putz, B., Völker, B., Semprimoschnig, C. & Cordill, M. J., 5 Jan. 2017, in: Microelectronic engineering. 167.2017, 5 January, S. 17-22 6 S.

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  5. Veröffentlicht

    Nanobeam electron diffraction strain mapping in monocrystalline silicon of modern trench power MOSFETs

    Karner, S., Blank, O., Rösch, M., Zalesak, J., Keckes, J. & Gammer, C., 2022, in: Microelectronic engineering. 264.2022, 15 August, 111870.

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  6. Veröffentlicht

    Numerical simulations of magneto transport in dot array systems at high magnetic fields

    Oswald, J., Ochiai, Y., Aoki, N., Lin, L., Ishibashi, K., Aoyagi, Y., Bird, J. P. & Ferry, D. K., 2002, in: Microelectronic engineering. S. 91-95

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  7. Veröffentlicht

    Separation of Universal and Non-Universal Scaling Regions in the IQHE

    Meisels, R., Kuchar, F., Belitsch, W. & Kramer, B., 1999, in: Microelectronic engineering. 47, S. 23-25

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

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