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  1. Veröffentlicht

    20 kHz X-ray diffraction on Cu thin films explores thermomechanical fatigue at high strain-rates

    Ziegelwanger, T., Reisinger, M., Vedad, B., Hlushko, K., Van Petegem, S., Todt, J., Meindlhumer, M. & Keckes, J., 31 Jan. 2025, in: Materials and Design. 251.2025, March, 9 S., 113664.

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  2. Veröffentlicht

    30 nm X-ray focusing correlates oscillatory stress, texture and structural defect gradients across multilayered Ti N-SiOx thin film

    Keckes, J., Daniel, R., Todt, J., Zalesak, J., Sartory, B., Braun, S., Gluch, J., Rosenthal, M., Burghammer, M. C., Mitterer, C., Niese, S. & Kubec, A., 2018, in: Acta materialia. 144, S. 862-873

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  3. Veröffentlicht

    3D strain imaging in sub-micrometer crystals using cross-reciprocal space measurements: Numerical feasibility and experimental methodology

    Vaxelaire, N., Labat, S., Chamard, V., Thomas, O., Jaques, V., Picca, F., Ravy, S., Kirchlechner, C. & Keckes, J., 2010, in: Nuclear instruments & methods in physics research / B Beam interactions with materials and atoms. S. 388-393

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  4. Veröffentlicht

    Ab initio molecular dynamics model for density, elastic properties and short range order of Co–Fe–Ta–B metallic glass thin films

    Hostert, C., Music, D., Bednarcik, J., Keckes, J., Kapaklis, V., Hjövarsson, B. & Schneider, J. M., 2011, in: European physical journal B, Condensed matter physics : EPJ B. S. 4754011-4754017

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  5. Veröffentlicht

    A cantilever method to determine depth profiles of residual stresses on the nanoscale

    Massl, S., Keckes, J. & Pippan, R., 2006.

    Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)

  6. Veröffentlicht

    A combinatorial X-ray sub-micron diffraction study of microstructure, residual stress and phase stability in TiAlN coatings

    Riedl, A., Daniel, R., Todt, J., Steffenelli, M., Holec, D., Sartory, B., Krywka, C., Müller, M., Mitterer, C. & Keckes, J., 2014, in: Surface & coatings technology. 257, S. 108-113

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  7. Veröffentlicht

    Actual versus apparent within cell wall variability of nanoindentation results from wood cell walls related to cellulose microfibril angle

    Konnerth, J., Gierlinger, N., Keckes, J. & Gindl, W., 2009, in: Journal of materials science. 44, S. 4399-4406

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  8. Veröffentlicht

    A direct method of determining complex depth profiles of residual stresses in thin films on a nanoscale

    Massl, S., Keckes, J. & Pippan, R., 2007, in: Acta materialia. 55, S. 4835-4844

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  9. Veröffentlicht

    Advanced characterization methods for wear resistant hard coatings: A review on recent progress

    Tkadletz, M., Schalk, N., Daniel, R., Keckes, J., Czettl, C. & Mitterer, C., 2016, in: Surface & coatings technology. 285, S. 31-46 16 S.

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  10. Veröffentlicht

    Advanced cross-sectional characterization of hard coatings

    Tkadletz, M., Mitterer, C., Keckes, J., Rebelo De Figueiredo, M., Hosemann, P., Burghammer, M., Sartory, B. & Czettl, C., 2013.

    Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)

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