Publikationen

  1. 2016
  2. Veröffentlicht

    Thermo-physical properties of wear resistant hard coatings

    Tkadletz, M., Schalk, N., Pohler, M., Czettl, C. & Mitterer, C., 2016.

    Publikationen: KonferenzbeitragVortragForschung

  3. Veröffentlicht

    X-ray nanodiffraction analysis of stress oscillations in a W thin film on through-silicon via

    Todt, J., Hammer, H., Sartory, B., Burghammer, M., Kraft, J., Daniel, R., Keckes, J. & Defregger, S., 2016, in: Journal of applied crystallography. 49, S. 182-187 6 S.

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  4. 2015
  5. Veröffentlicht
  6. Elektronische Veröffentlichung vor Drucklegung.

    Cu diffusion in single-crystal and polycrystalline TiN barrier layers: A high-resolution experimental study supported by first-principles calculations

    Mühlbacher, M., Bochkarev, A. S., Mendez Martin, F., Sartory, B., Chitu, L., Popov, M., Puschnig, P., Spitaler, J., Ding, H., Schalk, N., Lu, J., Hultman, L. & Mitterer, C., 26 Aug. 2015, (Elektronische Veröffentlichung vor Drucklegung.) in: Journal of applied physics. 118.2015, 8, 085307.

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  7. Veröffentlicht

    Restrictions of stress measurements using the curvature method by thermally induced plastic deformation of silicon substrates

    Saringer, C., Tkadletz, M. & Mitterer, C., 25 Juli 2015, in: Surface & coatings technology. 274, S. 68-75 8 S.

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  8. Veröffentlicht

    Effect of wavelength modulation of arc evaporated Ti-Al-N/Ti-Al-V-N multilayer coatings on microstructure and mechanical/tribological properties

    Pfeiler-Deutschmann, M., Mayrhofer, P. H., Chladil, K., Penoy, M., Michotte, C., Kathrein, M. & Mitterer, C., 1 Jan. 2015, in: Thin solid films. 581, S. 20-24 5 S.

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  9. Veröffentlicht
  10. Veröffentlicht
  11. Veröffentlicht

    Copper diffusion into single-crystalline TiN studied by transmission electron microscopy and atom probe tomography

    Mühlbacher, M., Mendez Martin, F., Sartory, B., Schalk, N., Keckes, J., Lu, J., Hultman, L. & Mitterer, C., 2015, in: Thin solid films. 574, S. 103-109

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  12. Veröffentlicht