Photonic superlattice multilayers for EUV lithography infrastructure

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Organisationseinheiten

Details

OriginalspracheEnglisch
Titel34th European Mask and Lithography Conference
Herausgeber (Verlag)SPIE
Band10775
ISBN (Print)9781510621213
DOIs
StatusVeröffentlicht - 1 Jan. 2018
Veranstaltung34th European Mask and Lithography Conference, EMLC 2018 - Grenoble, Frankreich
Dauer: 18 Juni 201820 Juni 2018

Konferenz

Konferenz34th European Mask and Lithography Conference, EMLC 2018
Land/GebietFrankreich
OrtGrenoble
Zeitraum18/06/1820/06/18