Rostislav Daniel
Publikationen
- 2015
- Veröffentlicht
Microstructure, mechanical and optical properties of TiAlON coatings sputter deposited with varying oxygen partial pressures
Schalk, N., Simonet Fotso, J., Holec, D., Fian, A., Jakopic, G., Terziyska, V., Daniel, R. & Mitterer, C., 2015.Publikationen: Konferenzbeitrag › Vortrag › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Microstructure, mechanical and optical properties of TiAlON coatings sputter-deposited with varying oxygen partial pressures
Schalk, N., Simonet Fotso, J. F. T., Holec, D., Fian, A., Jakopic, G., Terziyska, V. L., Daniel, R. & Mitterer, C., 2015, in: Journal of physics / D, Applied physics.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Microstructure-controlled depth gradients of mechanical properties in thin nanocrystalline films: Towards structure-property gradient functionalization
Daniel, R., Zeilinger, A., Schöberl, T., Sartory, B., Mitterer, C. & Keckes, J., 2015, in: Journal of applied physics. 117, 23, S. 235301-1-235301-12Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Nitrogen atom shift and the structural change in chromium nitride
Wan, P., Zhang, Z., Holec, D., Daniel, R., Mitterer, C. & Duan, H., 2015, in: Acta materialia. 98, S. 119-127Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Recent progress in advanced characterization methods for the development of hard coatings: From improved composition/microstructure/property relations to insights in degradation behavior
Mitterer, C., Mühlbacher, M., Zeilinger, A., Stefenelli, M., Daniel, R., Tkadletz, M., Schalk, N., Sartory, B. & Keckes, J., 2015.Publikationen: Konferenzbeitrag › Vortrag › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Resolving depth evolution of microstructure and hardness in sputtered CrN film
Zeilinger, A., Daniel, R., Schöberl, T., Stefenelli, M., Sartory, B., Keckes, J. & Mitterer, C., 2015, in: Thin solid films. 581.2015, April, S. 75-79Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Software Package to evaluate two-dimensional X-ray nanodiffraction data from thin films
Keckes, J., Stefenelli, M., Todt, J., Mitterer, C., Daniel, R. & Keckes, J., 2015.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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The peculiarity of the metalceramic interface
Zhang, Z., Long, Y., Cazottes, S., Daniel, R., Mitterer, C. & Dehm, G., 2015, in: Scientific reports (London : Nature Publishing Group). S. 1-12Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
X-ray nanodiffraction reveals stress distribution across an indented multilayered CrN-Cr thin film
Steffenelli, M., Daniel, R., Ecker, W., Kiener, D., Todt, J., Zeilinger, A., Mitterer, C., Burghammer, M. & Keckes, J., 2015, in: Acta materialia. 85, S. 24-31Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- 2014
- Elektronische Veröffentlichung vor Drucklegung.
Complementary ab initio and X-ray nanodiffraction studies of Ta2 O5
Hollerweger, R., Holec, D., Paulitsch, J., Bartosik, M., Daniel, R., Rachbauer, R., Polcik, P., Keckes, J., Krywka, C., Euchner, H. & Mayerhofer, P. H., 30 Okt. 2014, (Elektronische Veröffentlichung vor Drucklegung.) in: Acta materialia. 83.2015, 15 January, S. 276-284 9 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
