Rostislav Daniel
Publikationen
- 2013
- Veröffentlicht
Origins of microstructure and stress gradients in nanocrystalline thin films: The role of growth parameters and self-organization
Daniel, R., Keckes, J., Matko, I., Burghammer, M. & Mitterer, C., 2013, in: Acta materialia. 61, S. 6255-6266Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Self-organized periodic soft-hard nanolamellae in polycrystalline TiAlN thin films
Keckes, J., Daniel, R., Mitterer, C., Matko, I., Sartory, B., Köpf, A., Weißenbacher, R. & Pitonak, R., 2013, in: Thin solid films. 545, S. 29-32Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Transmission electron microscopy characterization of CrN films on MgO(001)
Harzer, T. P., Daniel, R., Mitterer, C., Dehm, G. & Zhang, Z. L., 2013, in: Thin solid films. 545, S. 154-160 7 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Using pulsed and modulated photothermal radiometry to measure the thermal conductivity of thin films
Kusiak, A., Martan, J., Battaglia, J.-L. & Daniel, R., 2013, in: Thermochimica Acta. 556, S. 1-5Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
X-ray analysis of residual stress gradients in TiN coatings by a Laplace space approach and cross-sectional nanodiffraction: a critical comparison
Steffenelli, M., Todt, J., Riedl, A., Ecker, W., Müller, T., Daniel, R., Burghammer, M. & Keckes, J., 2013, in: Journal of applied crystallography. 46, S. 1-8Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- 2012
- Veröffentlicht
A novel approach for determining fracture toughness of hard coatings on the micrometer scale
Riedl, A., Daniel, R., Steffenelli, M., Schöberl, T., Kolednik, O., Mitterer, C. & Keckes, J., 2012, in: Scripta materialia. 67, S. 708-711Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Design and architecture of functional materials systems
Daniel, R., 2012.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Lateral gradients of phases, residual stress and hardness in a laser heated Ti0.52Al0.48N coating on hard metal
Bartosik, M., Daniel, R., Zhang, Z., Deluca, M., Ecker, W., Steffenelli, M., Klaus, M., Genzel, C., Stefenelli, M., Mitterer, C. & Keckes, J., 2012, in: Surface & coatings technology. 206, S. 4502-4510 9 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Mesure de la conductivite thermique des couches de CrN par deux techniques de radiometrie photothermique
Battaglia, J.-L., Martan, J., Kusiak, A. & Daniel, R., 2012.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Mesure de la conductivite thermique d'une couche de CrN par deux techniques de radiometrie photothermique
Battaglia, J.-L., Martan, J., Kusiak, A. & Daniel, R., 2012, Congres francais de thermique. S. 108-114Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
- Veröffentlicht
Microstructure and mechanical properties of nanocrystalline Al-Cr-B-N thin films
Tritremmel, C., Daniel, R., Lechthaler, M., Rudigier, H., Polcik, P. & Mitterer, C., 2012, in: Surface & coatings technology. 213, S. 1-7Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Microstructure modifications of CrN coatings by pulsed bias sputtering
Grasser, S., Daniel, R. & Mitterer, C., 2012, in: Surface & coatings technology. 206, S. 4666-4671Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Oxidation behavior of arc evaporated Al-Cr-Si-N thin films
Tritremmel, C., Daniel, R., Mitterer, C., Mayrhofer, P. H., Lechthaler, M. & Polcik, P., 2012, in: Journal of vacuum science & technology / A (JVST). 30, S. 061501-1-061501-6Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Structure related stress gradients in thin nanocrystalline films revealed by X-ray nanodiffraction
Daniel, R., Keckes, J. & Mitterer, C., 2012.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
TEM characterization of CrN thin films epitaxially grown on MgO (001)
Harzer, T. P., Kormout, K., Daniel, R., Mitterer, C., Dehm, G. & Zhang, Z. L., 2012.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Thermally treated hard coatings characterized by XRD coupled with four-point bending
Steffenelli, M., Riedl, A., Bartosik, M., Daniel, R., Mitterer, C. & Keckes, J., 2012.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
X-ray nanodiffraction reveals strain and microstructure evolution in nanocrystalline thin films
Keckes, J., Bartosik, M., Daniel, R., Mitterer, C., Maier, G. A., Ecker, W., Vila-Comamala, J., David, C., Schoeder, S. & Burghammer, M., 2012, in: Scripta materialia. 67, S. 748-751Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- 2011
- Veröffentlicht
Advanced characterisation of the Cu-MgO interface structure by Cs-corrected high-resolution transmission electron microscopy
Zhang, Z., Daniel, R., Dehm, G. & Mitterer, C., 2011.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Atomic and electronic characterization on the CrN/Cr/Si interfaces using CS-corrected HRTEM
Zhang, Z., Daniel, R. & Mitterer, C., 2011.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Atomic and electronic structures of a transition layer at the CrN/Cr interface
Zhang, Z., Daniel, R. & Mitterer, C., 2011, in: Journal of applied physics. 110, S. 043524-1-043524-4Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
