Rostislav Daniel
Publikationen
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X-ray nanodiffraction reveals stress distribution across an indented multilayered CrN-Cr thin film
Steffenelli, M., Daniel, R., Ecker, W., Kiener, D., Todt, J., Zeilinger, A., Mitterer, C., Burghammer, M. & Keckes, J., 2015, in: Acta materialia. 85, S. 24-31Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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X-ray nanodiffraction reveals strain and microstructure evolution in nanocrystalline thin films
Keckes, J., Bartosik, M., Daniel, R., Mitterer, C., Maier, G. A., Ecker, W., Vila-Comamala, J., David, C., Schoeder, S. & Burghammer, M., 2012, in: Scripta materialia. 67, S. 748-751Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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X-ray nanodiffraction analysis of stress oscillations in a W thin film on through-silicon via
Todt, J., Hammer, H., Sartory, B., Burghammer, M., Kraft, J., Daniel, R., Keckes, J. & Defregger, S., 2016, in: Journal of applied crystallography. 49, S. 182-187 6 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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X-ray diffraction analysis of three-dimensional residual stress fields reveals origins of thermal fatigue in uncoated and coated steel
Kirchlechner, C., Martinschitz, K. J., Daniel, R., Mitterer, C., Donges, J., Rothkirch, A., Klaus, M., Genzel, C. & Keckes, J., 2010, in: Scripta materialia. 62, S. 774-777Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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X-ray analysis of residual stress gradients in TiN coatings by a Laplace space approach and cross-sectional nanodiffraction: a critical comparison
Steffenelli, M., Todt, J., Riedl, A., Ecker, W., Müller, T., Daniel, R., Burghammer, M. & Keckes, J., 2013, in: Journal of applied crystallography. 46, S. 1-8Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Using pulsed and modulated photothermal radiometry to measure the thermal conductivity of thin films
Kusiak, A., Martan, J., Battaglia, J.-L. & Daniel, R., 2013, in: Thermochimica Acta. 556, S. 1-5Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Transmission electron microscopy characterization of CrN films on MgO(001)
Harzer, T. P., Daniel, R., Mitterer, C., Dehm, G. & Zhang, Z. L., 2013, in: Thin solid films. 545, S. 154-160 7 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Thermal Stability of Sputtered W-Si-N Coatings
Fadenberger, K., Rebholz, C., Baker, M. A., Daniel, R., Musil, J., Mayrhofer, P. H. & Mitterer, C., 2007, 34 th International Conference on Metallurgical Coatings and Thin Films. S. 36-36Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
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Thermal stability of magnetron sputtered Zr–Si–N films
Daniel, R., Musil, J., Zeman, P. & Mitterer, C., 2006, in: Surface & coatings technology. 201, S. 3368-3376Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Thermally treated hard coatings characterized by XRD coupled with four-point bending
Steffenelli, M., Riedl, A., Bartosik, M., Daniel, R., Mitterer, C. & Keckes, J., 2012.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
