Rostislav Daniel
Publikationen
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Insights into the atomic and electronic structure triggered by ordered nitrogen vacancies in CrN
Zhang, Z., Li, H., Daniel, R., Mitterer, C. & Dehm, G., 2013, in: Physical review : B, Condensed matter and materials physics. 87, S. 0141041-0141049Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Comparative studies of the CrN-Cr-Si an d CrN-Si interfaces by Cs-corrected HRTEM and STEM-EELS
Zhang, Z., Daniel, R. & Mitterer, C., 2011, Proceeding of Multinational Congress on Microscopy. S. 29-30Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
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Atomic and electronic characterization on the CrN/Cr/Si interfaces using CS-corrected HRTEM
Zhang, Z., Daniel, R. & Mitterer, C., 2011.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Advanced characterisation of the Cu-MgO interface structure by Cs-corrected high-resolution transmission electron microscopy
Zhang, Z., Daniel, R., Dehm, G. & Mitterer, C., 2011.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Comparative studies of the CrN-Cr-Si an d CrN-Si interfaces by Cs-corrected HRTEM and STEM-EELS
Zhang, Z., Daniel, R. & Mitterer, C., 2011.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Atomic and electronic structures of a transition layer at the CrN/Cr interface
Zhang, Z., Daniel, R. & Mitterer, C., 2011, in: Journal of applied physics. 110, S. 043524-1-043524-4Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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The peculiarity of the metalceramic interface
Zhang, Z., Long, Y., Cazottes, S., Daniel, R., Mitterer, C. & Dehm, G., 2015, in: Scientific reports (London : Nature Publishing Group). S. 1-12Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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High-temperature oxidation resistance of Ta-Si-N films with a high Si content
Zeman, P., Musil, J. & Daniel, R., 2006, in: Surface & coatings technology.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Extraordinary high-temperature behavior of electrically conductive Hf7B23Si22C6N40 ceramic film
Zeman, P., Zuzjaková, Čerstvý, R., Houška, J., Shen, Y., Todt, J., Jiang, J., Daniel, R., Keckes, J., Meletis, E. I. & Vlček, J., 15 Juni 2020, in: Surface and Coatings Technology. 391.2020, 15 June, 8 S., 125686.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Resolving depth evolution of microstructure and hardness in sputtered CrN film
Zeilinger, A., Daniel, R., Schöberl, T., Stefenelli, M., Sartory, B., Keckes, J. & Mitterer, C., 2015, in: Thin solid films. 581.2015, April, S. 75-79Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
