Rostislav Daniel
Publikationen
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Evolution of structure and residual stress of a fcc/hex-AlCrN multi-layered system upon thermal loading revealed by cross-sectional X-ray nano-diffraction
Jäger, N., Klima, S., Hruby, H., Julin, J., Burghammer, M., Keckes, J., Mitterer, C. & Daniel, R., 2019, in: Acta materialia. 162.2019, 1, S. 55-66 12 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Microstructural evolution and thermal stability of AlCr(Si)N hard coatings revealed by in-situ high-temperature high-energy grazing incidence transmission X-ray diffraction
Jäger, N., Meindlhumer, M., Spor, S., Hruby, H., Julin, J., Stark, A., Nahif, F., Keckes, J., Mitterer, C. & Daniel, R., 18 Jan. 2020, in: Acta materialia. 186.2020, March, S. 545-554 10 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Impact of Si on the high-temperature oxidation of AlCr(Si)N coatings
Jäger, N., Meindlhumer, M., Zitek, M., Spor, S., Hruby, H., Nahif, F., Julin, J., Rosenthal, M., Keckes, J., Mitterer, C. & Daniel, R., 20 Feb. 2022, in: JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE & TECHNOLOGY. 100.2022, 20 February, S. 91-100 10 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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X-ray nanodiffraction reveals strain and microstructure evolution in nanocrystalline thin films
Keckes, J., Bartosik, M., Daniel, R., Mitterer, C., Maier, G. A., Ecker, W., Vila-Comamala, J., David, C., Schoeder, S. & Burghammer, M., 2012, in: Scripta materialia. 67, S. 748-751Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Self-organized periodic soft-hard nanolamellae in polycrystalline TiAlN thin films
Keckes, J., Daniel, R., Mitterer, C., Matko, I., Sartory, B., Köpf, A., Weißenbacher, R. & Pitonak, R., 2013, in: Thin solid films. 545, S. 29-32Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Novel TiAlN nanostructured CVD coatings with superior oxidation resistance
Keckes, J., Todt, J., Daniel, R., Mitterer, C., Köpf, A., Weißenbacher, R. & Pitonak, R., 2013.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Nano-Beam X-ray Diffraction Reveals Structural and Mechanical Gradients in Nano-Crystalline Thin Films
Keckes, J., Bartosik, M., Daniel, R., Mitterer, C., Maier, G., Schoeder, S. & Burghammer, M., 2010.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Nano-beam-x-ray diffraction reveals strain, composition, texture and crystal size gradients across nano-crystalline thin films
Keckes, J., Daniel, R., Bartosik, M., Mitterer, C., Schoeder, S. & Burghammer, M., 2011, Proceeding of International Conference on Metallurgical Coatings and Thin Films. S. 55-55Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
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High-temperature residual stresses in thin films characterized by x-ray diffraction substrate curvature method
Keckes, J., Eiper, E., Martinschitz, K. J., Köstenbauer, H., Daniel, R. & Mitterer, C., 2007, in: Review of scientific instruments. 78, S. 036103-01-036103-03Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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30 nm X-ray focusing correlates oscillatory stress, texture and structural defect gradients across multilayered Ti N-SiOx thin film
Keckes, J., Daniel, R., Todt, J., Zalesak, J., Sartory, B., Braun, S., Gluch, J., Rosenthal, M., Burghammer, M. C., Mitterer, C., Niese, S. & Kubec, A., 2018, in: Acta materialia. 144, S. 862-873Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
