Rostislav Daniel
Publikationen
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X-ray nanodiffraction analysis of stress oscillations in a W thin film on through-silicon via
Todt, J., Hammer, H., Sartory, B., Burghammer, M., Kraft, J., Daniel, R., Keckes, J. & Defregger, S., 2016, in: Journal of applied crystallography. 49, S. 182-187 6 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Improvement of mechanical and tribological properties of arc evaporated Al-Cr-B-N hard coatings via multilayer architectures
Tritremmel, C., Daniel, R. & Mitterer, C., 2010, Proceedings 12th International Conference on Plasma Surface Engineering. S. 115-115Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
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Influence of Al and Si content on structure and mechanical properties of arc evaporated Al-Cr-Si-N thin films
Tritremmel, C., Daniel, R., Lechthaler, M., Pocik, P. & Mitterer, C., 2013, in: Thin solid films. 534, S. 403-409Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Mechanical and tribological properties of Al - Ti - N/Al - Cr - B -N multilayer films synthesized by cathodic arc evaporation
Tritremmel, C., Daniel, R., Rudigier, H., Pocik, P. & Mitterer, C., 2014, in: Surface & coatings technology. 246, S. 57-63Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Microstructure and mechanical properties of nanocrystalline Al-Cr-B-N thin films
Tritremmel, C., Daniel, R., Lechthaler, M., Rudigier, H., Polcik, P. & Mitterer, C., 2012, in: Surface & coatings technology. 213, S. 1-7Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Oxidation behavior of arc evaporated Al-Cr-Si-N thin films
Tritremmel, C., Daniel, R., Mitterer, C., Mayrhofer, P. H., Lechthaler, M. & Polcik, P., 2012, in: Journal of vacuum science & technology / A (JVST). 30, S. 061501-1-061501-6Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Finite Element Simulation of the Effect of surface roughness on nanoindentation of thin films with spherical indenters
Walter, C., Antretter, T., Daniel, R. & Mitterer, C., 2007, in: Surface & coatings technology. 202, S. 1103-1107Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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FEM simulation of the effect of surface roughness on nanoindentation of thin films with a spherical indenter
Walter, C., Antretter, T., Daniel, R. & Mitterer, C., 2007, 34th International Conference on Metallurgical Coatings and Thin Films. S. 60-60Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
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Nitrogen atom shift and the structural change in chromium nitride
Wan, P., Zhang, Z., Holec, D., Daniel, R., Mitterer, C. & Duan, H., 2015, in: Acta materialia. 98, S. 119-127Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Cross-sectional structure-property relationship in a graded nanocrystalline Ti1-xAlxN thin film
Zalesak, J., Bartosik, M., Daniel, R., Mitterer, C., Krywka, C., Kiener, D., Mayrhofer, P. H. & Keckes, J., 2016, in: Acta materialia. 102, S. 212-219 8 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
