Jozef Keckes
Publikationen
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Humidity-driven deformation of ordered mesoporous silica films
Sharifi Rajabi, P., Marmiroli, B., Sartori, B., Cacho-Nerin, F., Keckes, J., Amenitsch, H. & Paris, O., 2014, in: Bioinspired, Biomimetic and Nanobiomaterials. 3, S. 183-190Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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HPT-Deformation of copper an nickel single crystals
Hafok, M., Vorhauer, A., Keckes, J. & Pippan, R., 2006, in: Materials Science Forum . 503-504, S. 621-626Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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HPT-Deformation of Copper and Nickel Single Crystals
Hafok, M., Vorhauer, A., Keckes, J. & Pippan, R., 2005, 3rd International Conference on Nanomaterials by Severe Plastic Deformation. Trans Tech Publications, S. 621-626Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
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HPT-Deformation of copper and nickel single crystals
Hofak, M., Vorhauer, A., Keckes, J. & Pippan, R., 2005.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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How Residual Stresses Affect the Fracture Properties of Layered Thin Films
Kiener, D., Treml, R., Kozic, D., Zalesak, J., Zechner, J., Keckes, J., Schöngrundner, R., Gänser, H.-P. & Brunner, R., 2015.Publikationen: Konferenzbeitrag › Vortrag › Forschung › (peer-reviewed)
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How electron beam melting tailors the Al-sensitive microstructure and mechanical response of a novel process-adapted y-TiAl based alloy
Wimler, D., Käsznar, K., Musi, M., Breuning, C., Markl, M., Keckes, J., Clemens, H., Körner, C. & Mayer, S., 15 Dez. 2021, in: Materials and Design. 212.2021, 15 December, 13 S., 110187.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Hochtemperatur-Röntgendiffraktion - Spannungen und Deformationen in dünnen Aluminium-Schichten auf Silizium
Resch, C., Keckes, J., Eiper, E. & Resel, E., 2005, Handbuch der Nanoanalytik. S. 170-172Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Buch/Sammelband › Forschung
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High-temperature residual stresses in thin films characterized by x-ray diffraction substrate curvature method
Keckes, J., Eiper, E., Martinschitz, K. J., Köstenbauer, H., Daniel, R. & Mitterer, C., 2007, in: Review of scientific instruments. 78, S. 036103-01-036103-03Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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High-temperature characterization of three-dimensional distribution of residual stresses in Crn coatings on steel
Martinschitz, K. J., Kirchlechner, C., Keckes, J., Daniel, R. & Mitterer, C., 2008.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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High resolution studies of epitaxially grown sexiphenyl on TiO2(110)
Resel, R., Lengyel, O., Oehzelt, M., Eiper, E., Keckes, J., Krenn, J., Koller, G., Berkebile, S. & Ramsey, M., 2004.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
