Jozef Keckes
Publikationen
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Review: current international research into cellulose nanofibres and nanocomposites
Keckes, J., Eichhorn, S. J., Dufresne, A., Aranguren, M., Marcovich, N. E., Capadona, J. R., Rowan, S. J., Weder, C., Thielemans, W., Roman, M., Renneckar, S., Gindl, W., Veigel, S., Yano, H., Abe, K., Nogi, M. & Nakagaito, A. N., 2010, in: Journal of materials science. S. 1-33Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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30 nm X-ray focusing correlates oscillatory stress, texture and structural defect gradients across multilayered Ti N-SiOx thin film
Keckes, J., Daniel, R., Todt, J., Zalesak, J., Sartory, B., Braun, S., Gluch, J., Rosenthal, M., Burghammer, M. C., Mitterer, C., Niese, S. & Kubec, A., 2018, in: Acta materialia. 144, S. 862-873Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Software Package to evaluate two-dimensional X-ray nanodiffraction data from thin films
Keckes, J., Stefenelli, M., Todt, J., Mitterer, C., Daniel, R. & Keckes, J., 2015.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Determination of residual stresses and fracture properties on a local scale
Kiener, D., Treml, R., Kozic, D., Brunner, R., Keckes, J. & Zechner, J., 2015.Publikationen: Konferenzbeitrag › Vortrag › Forschung › (peer-reviewed)
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How Residual Stresses Affect the Fracture Properties of Layered Thin Films
Kiener, D., Treml, R., Kozic, D., Zalesak, J., Zechner, J., Keckes, J., Schöngrundner, R., Gänser, H.-P. & Brunner, R., 2015.Publikationen: Konferenzbeitrag › Vortrag › Forschung › (peer-reviewed)
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X-ray diffraction analysis of three-dimensional residual stress fields reveals origins of thermal fatigue in uncoated and coated steel
Kirchlechner, C., Martinschitz, K. J., Daniel, R., Mitterer, C., Donges, J., Rothkirch, A., Klaus, M., Genzel, C. & Keckes, J., 2010, in: Scripta materialia. 62, S. 774-777Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Micro tensile tests: New insights based on µDiffraction
Kirchlechner, C., Motz, C., Grosinger, W., Labat, S., Perroud, O., Thomas, O., Micha, J.-S., Ulrich, O., Dehm, G. & Keckes, J., 2009.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Impact of instrumental constraints and imperfections on the dislocation structure in micron-sized Cu compression pillars
Kirchlechner, C., Keckes, J., Motz, C., Grosinger, W., Kapp, M. W., Micha, J.-S., Ulrich, O. & Dehm, G., 2011, in: Acta materialia. 59, S. 5618-5626Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Dislocation storage in single slip oriented Cu micro-tensile samples: New insights by X-ray microdiffraction
Kirchlechner, C., Kiener, D., Motz, C., Labat, S., Vaxelaire, N., Perroud, O., Micha, J.-S., Ulrich, O., Thomas, O., Dehm, G. & Keckes, J., 2011, in: Philosophical magazine. 91, S. 1256-1264Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Residual stresses and thermal fatigue in CrN hard coatings characterized by high-temperature synchrotron X-ray diffraction
Kirchlechner, C., Martinschitz, K. J., Daniel, R., Klaus, M., Genzel, C., Mitterer, C. & Keckes, J., 2010, in: Thin solid films. 518, 8, S. 2090-2096Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
