Harald Köstenbauer
(Ehemalig)
Publikationen
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Annealing of intrinsic stresses in sputtered TiN films: The role of thickness-dependent gradients of point defect density
Köstenbauer, H., Fontalvo, G., Kapp, M., Keckes, J. & Mitterer, C., 2007, in: Surface & coatings technology. 201, S. 4777-4780Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Fundamental investigations on stress engineering of sputtered hard coatings
Köstenbauer, H., 2008, 113 S.Publikationen: Thesis / Studienabschlussarbeiten und Habilitationsschriften › Dissertation
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High-temperature residual stresses in thin films characterized by x-ray diffraction substrate curvature method
Keckes, J., Eiper, E., Martinschitz, K. J., Köstenbauer, H., Daniel, R. & Mitterer, C., 2007, in: Review of scientific instruments. 78, S. 036103-01-036103-03Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Oxidation and wet etching behavior of sputtered ternary molybdenum films
Jörg, T., Hofer-Roblyek, A. M., Winkler, J., Mitterer, C. & Köstenbauer, H., 2014.Publikationen: Konferenzbeitrag › Vortrag › Forschung
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Temperature dependence of residual stresses in thin films determined by the substrate curvatur method
Eiper, E., Martinschitz, K.-J., Köstenbauer, H., Massl, S. & Keckes, J., 2006.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
