Gerhard Dehm
(Ehemalig)
Publikationen
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Determination of Mechanical Properties of Copper at the Micron Scale
Kiener, D., Motz, C., Schöberl, T., Jenko, M. & Dehm, G., 2006, in: Advanced engineering materials. 8, S. 1119-1125Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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On the importance of sample compliance in uniaxial microtesting
Kiener, D., Grosinger, W. & Dehm, G., 2009, in: Scripta materialia. 60, S. 148-151Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Work hardening in micropillar compression: In situ experiments and modeling
Kiener, D., Guruprasad, P. J., Keralavarma, S. M., Dehm, G. & Benzerga, A. A., 2011, in: Acta materialia. 59, S. 3825-3840Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Characterization of mechanical properties on the micron size. Bericht 3
Kiener, D. & Dehm, G., 2006Publikationen: Buch/Bericht › Forschungsbericht › Transfer › (peer-reviewed)
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Characterization of mechanical properties on the micron size. Bericht 1
Kiener, D. & Dehm, G., 2007Publikationen: Buch/Bericht › Forschungsbericht › Transfer › (peer-reviewed)
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Influence of external and internal length scale on the flow stress of copper
Kiener, D., Rester, M., Scheriau, S., Yang, B., Pippan, R. & Dehm, G., 2007, in: International journal of materials research : IJMR ; Zeitschrift für Metallkunde. 98, S. 1047-1053Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Influence of External and Internal Length Scale of the Flow Stress of Copper
Kiener, D., Rester, M., Scheriau, S., Yang, B., Pippan, R. & Dehm, G., 2007, in: International journal of materials research : IJMR ; Zeitschrift für Metallkunde. 98, S. 1047-1053Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Conventional TEM Investigation of the FIB Damage in Copper
Kiener, D., Jörg, T., Rester, M., Motz, C. & Dehm, G., 2007, Microscopy Conference, International Forum for Advanced Microscopy. S. 100-101Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
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In-Situ compression tests on micron-sized copper pillars
Kiener, D., Motz, C. & Dehm, G., 2006.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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In situ X-ray Diffraction as a tool to probe mechanical phenomena down to the nano-scale
Keckes, J., Eiper, E., Martinschitz, K. J., Boesecke, P., Gindl, W. & Dehm, G., 2006, in: Advanced engineering materials. S. 1084-1088Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)