Conventional TEM Investigation of the FIB Damage in Copper
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Autoren
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Details
| Titel in Übersetzung | Conventional TEM Investigation of the FIB Damage in Copper |
|---|---|
| Originalsprache | Englisch |
| Titel | Microscopy Conference, International Forum for Advanced Microscopy |
| Seiten | 100-101 |
| Status | Veröffentlicht - 2007 |
