Christian Mitterer
Publikationen
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TiN diffusion barrier failure by the formation of Cu3Si investigated by electron microscopy and atom probe tomography
Mühlbacher, M., Greczynski, G., Sartory, B., Mendez Martin, F., Schalk, N., Lu, J., Hultman, L. & Mitterer, C., 19 Feb. 2016, in: Journal of Vacuum Science and Technology B, JVSTB. 34.2016, 2, S. 1-8 8 S., 022202.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Evaluation of TiN diffusion barrier layers with different microstructures by transmission electron microscopy and atom probe tomography
Mühlbacher, M., Mendez Martin, F., Sartory, B., Chitu, L., Lu, J., Schalk, N., Keckes, J., Hultman, L. & Mitterer, C., 2015.Publikationen: Konferenzbeitrag › Vortrag › Forschung › (peer-reviewed)
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Diffusion in the Cu/TiN thin film system studied by atom probe tomography correlated with transmission electron microscopy and first-principles calculations
Mühlbacher, M., Mendez Martin, F., Lu, J., Schalk, N., Hultman, L. & Mitterer, C., 2015.Publikationen: Konferenzbeitrag › Vortrag › Forschung › (peer-reviewed)
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Diffusion Studies in the TiN/Cu Bilayer System and Beyond
Mühlbacher, M., Mendez Martin, F., Sartory, B., Greczynski, G., Lu, J., Schalk, N., Hultman, L. & Mitterer, C., 2016.Publikationen: Konferenzbeitrag › Vortrag › Forschung › (peer-reviewed)
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Deformation Mechanisms in Magnetron Sputtered Thin Film Metallic Glasses
Mühlbacher, M., Gammer, C., Konetschnik, R., Schöberl, T., Mitterer, C. & Eckert, J., März 2017.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung
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Enhanced Ti0.84Ta0.16N diffusion barriers, grown by a hybrid sputtering technique with no substrate heating, between Si (001) wafers and Cu overlayers
Mühlbacher, M., Greczynski, G., Sartory, B., Schalk, N., Lu, J., Petrov, I., Greene, J. E., Hultman, L. & Mitterer, C., 2018, in: Scientific reports (London : Nature Publishing Group). S. 1-9Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Nanoparticle-functionalized 3D substrates for superior analytical performance in surface enhanced raman spectroscopy
Mouti, N.-M., Kostoglou, N., Obenaus-Emler, R. & Mitterer, C., 2024.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung
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Oxidation mechanism of sputter deposited model SiNx/TiN/SiNx coatings
Moritz, Y., Kainz, C., Peritsch, P., Mitterer, C. & Schalk, N., 26 Juni 2023, (Elektronische Veröffentlichung vor Drucklegung.) in: Surface and Coatings Technology. 468.2023, 15 September, 7 S., 129753.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Determination of Cooling Rate and Temperature Gradient during Formation of Cathode Spot Craters in a Vacuum Arc
Mogeritsch, J., Franz, R., Golizadeh, M., Mitterer, C. & Kharicha, A., 19 Okt. 2022, in: Crystals. 12.2022, 10, 13 S., 1486.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Elektronische Veröffentlichung vor Drucklegung.
Anomalous thermal conductivity in amorphous niobium pentoxide thin films: A correlation study between structure and thermal properties
Mitterhuber, L. M., Kaliyaperumal Veerapandiyan, V., Deluca, M., Misture, S., Schaeperkoetter, J., Tkadletz, M., Mitterer, C. & Spitaler, J., 13 Okt. 2022, (Elektronische Veröffentlichung vor Drucklegung.) in: Materialia. 26.2022, December, 9 S., 101601.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)