Christian Mitterer
Publikationen
- Veröffentlicht
Multifunctional multi-component PVD coatings for cutting tools
Kathrein, M., Michotte, C., Penoy, M., Polcik, P. & Mitterer, C., 2005, in: Surface & coatings technology. 200, S. 1867-1871Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
X-ray nanodiffraction reveals strain and microstructure evolution in nanocrystalline thin films
Keckes, J., Bartosik, M., Daniel, R., Mitterer, C., Maier, G. A., Ecker, W., Vila-Comamala, J., David, C., Schoeder, S. & Burghammer, M., 2012, in: Scripta materialia. 67, S. 748-751Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Self-organized periodic soft-hard nanolamellae in polycrystalline TiAlN thin films
Keckes, J., Daniel, R., Mitterer, C., Matko, I., Sartory, B., Köpf, A., Weißenbacher, R. & Pitonak, R., 2013, in: Thin solid films. 545, S. 29-32Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Novel TiAlN nanostructured CVD coatings with superior oxidation resistance
Keckes, J., Todt, J., Daniel, R., Mitterer, C., Köpf, A., Weißenbacher, R. & Pitonak, R., 2013.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Nano-Beam X-ray Diffraction Reveals Structural and Mechanical Gradients in Nano-Crystalline Thin Films
Keckes, J., Bartosik, M., Daniel, R., Mitterer, C., Maier, G., Schoeder, S. & Burghammer, M., 2010.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Nano-beam-x-ray diffraction reveals strain, composition, texture and crystal size gradients across nano-crystalline thin films
Keckes, J., Daniel, R., Bartosik, M., Mitterer, C., Schoeder, S. & Burghammer, M., 2011, Proceeding of International Conference on Metallurgical Coatings and Thin Films. S. 55-55Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
- Veröffentlicht
High-temperature residual stresses in thin films characterized by x-ray diffraction substrate curvature method
Keckes, J., Eiper, E., Martinschitz, K. J., Köstenbauer, H., Daniel, R. & Mitterer, C., 2007, in: Review of scientific instruments. 78, S. 036103-01-036103-03Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Software Package to evaluate two-dimensional X-ray nanodiffraction data from thin films
Keckes, J., Stefenelli, M., Todt, J., Mitterer, C., Daniel, R. & Keckes, J., 2015.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
30 nm X-ray focusing correlates oscillatory stress, texture and structural defect gradients across multilayered Ti N-SiOx thin film
Keckes, J., Daniel, R., Todt, J., Zalesak, J., Sartory, B., Braun, S., Gluch, J., Rosenthal, M., Burghammer, M. C., Mitterer, C., Niese, S. & Kubec, A., 2018, in: Acta materialia. 144, S. 862-873Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Temperature-dependent wear mechanisms for magnetron sputtered AlTiTaN hard coatings
Khetan, V., Valle, N., Duday, D., Michotte, C., Mitterer, C., Delplancke, M.-P. & Choquet, P., 2014, in: ACS Applied Materials & Interfaces. 6, S. 15403-15411Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
