Department Physik, Mechanik und Elektrotechnik
Organisation: Departments and Institute
Publikationen
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Morphology and growth kinetic of organic thin films deposited by hot wall epitaxy
Andreev, A., Teichert, C., Hlawacek, G., Hoppe, H., Resel, R., Smilgies, D.-M., Sitter, H. & Sariciftci, N. S., 2004, in: Organic electronics. 5, S. 23-27Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Para-sexiphenyl thin films grown on dielectric substrates
Andreev, A., Hou, Y., Hlawacek, G. & Teichert, C., 2006.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Para-sexiphenyl thin films grown on dielectric substrates
Andreev, A., Montaigne, A., Hlawacek, G., Hou, Y., Haber, T., Resel, R., Teichert, C., Sitter, H. & Sariciftci, N. S., 2006, Para-sexiphenyl thin films grown on dielectric substrates. AIP, American Inst. of Physics, S. 328-328Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
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Fabrication and Characterization of Self-Organized Nanostructured Organic Thin Films and Devices
Andreev, A., Teichert, C., Singh, B. & Sariciftci, N. S., 2008, Organic Nanostructures for Next Generation Devices. S. 263-300Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Buch/Sammelband › Forschung
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Para-Sexiphenyl Thin Films Grown by Hot Wall Epitaxy on KCI(001)substrates
Andreev, A., Montaigne, A., Hlawacek, G., Sitter, H. & Teichert, C., 2006, in: Journal of vacuum science & technology / A (JVST). 24, S. 1660-1663Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Conductive-AFM measurements on cross sectional samples
Andreev, A. & Teichert, C., 2005Publikationen: Buch/Bericht › Forschungsbericht › Transfer › (peer-reviewed)
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Para-Sexiphenyl thin films on KCl(001) substrates
Andreev, A., Hlawacek, G. & Teichert, C., 2005.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Characterization of semiconducting nanorods by AFM and conducting AFM
Andreev, A., Hou, Y. & Teichert, C., 2006.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Elektronische Veröffentlichung vor Drucklegung.
Curvature determination of embedded silicon chips by in situ rocking curve X-ray diffraction measurements at elevated temperatures
Angerer, P., Schöngrundner, R., Macurova, K., Wießner, M. & Keckes, J., 28 Sept. 2016, (Elektronische Veröffentlichung vor Drucklegung.) in: Powder diffraction. 31.2016, 4, S. 267-273 7 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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A Chemo-Mechanically Coupled Model for the Prediction of Phase Segregation and Pore Formation in Microelectronic Solders
Antretter, T., 7 Jan. 2024.Publikationen: Konferenzbeitrag › Vortrag › Forschung › (peer-reviewed)
