Department Werkstoffwissenschaft
Organisation: Departments and Institute
Publikationen
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Modification of wetting of copper (Cu) on carbon (C) by plasma treatment and molybdenum (Mo)interlayers
Eisenmenger-Sittner, C., Schrank, C., Neubauer, E., Eiper, E. & Keckes, J., 2006, in: Applied surface science. 252, S. 5343-5346Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Residual stresses and size-strain phenomena in thermally cycled Cu layers on anisotropical SiO2(110) substrates
Eiper, E., Hafok, M., Eisenmenger-Sittner, C. & Keckes, J., 2004.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Size effect in metallic thin films characterized by low-temperature X-ray diffraction
Eiper, E., Martinschitz, K. J., Dehm, G. & Keckes, J., 2006.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Zukunftsfonds Land Steiermark, Projekt Nr. 119
Eiper, E., Keckes, J. & Pippan, R., 2006Publikationen: Buch/Bericht › Forschungsbericht › Transfer › (peer-reviewed)
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Size-independent stresses in Al thin films thermally strained down to -100°C
Eiper, E., Keckes, J., Zizak, I., Cabie, M. & Dehm, G., 2007, in: Acta materialia. 55, S. 1941-1946Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Thermally-induced stresses in thin aluminum layers grown on silicon
Eiper, E., Resel, R., Eisenmenger-Sittner, C., Hafok, M. & Keckes, J., 2004, in: Powder diffraction. S. 74-76Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Anisotropic intrinsic and extrinsic stresses in gan thin film on LiAlO2 (100)
Eiper, E., Gerlach, J. W., Rauschenbach, B. & Keckes, J., 2004.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Temperature dependence of residual stresses in thin films determined by the substrate
Eiper, E., Martinschitz, K.-J., Köstenbauer, H., Massl, S. & Keckes, J., 2006.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Temperature dependence of residual stresses in thin films determined by the substrate curvatur method
Eiper, E., Martinschitz, K.-J., Köstenbauer, H., Massl, S. & Keckes, J., 2006.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Size effect in metallic thin films characterized by low-temperature X-ray diffraction
Eiper, E., Martinschitz, K. J., Dehm, G. & Keckes, J., 2006.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
