Lehrstuhl für Materialphysik (430)
Organisation: Lehrstuhl
Publikationen
- 2010
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Recrystallization and grain growth behavior of SPD deformed 316L stainless steel
Pippan, R., Scheriau, S., Schöberl, T. & Kleber, S., 2010, in: Advanced materials. S. 491-496Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Residual stresses and thermal fatigue in CrN hard coatings characterized by high-temperature synchrotron X-ray diffraction
Kirchlechner, C., Martinschitz, K. J., Daniel, R., Klaus, M., Genzel, C., Mitterer, C. & Keckes, J., 2010, in: Thin solid films. 518, 8, S. 2090-2096Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Review: current international research into cellulose nanofibres and nanocomposites
Keckes, J., Eichhorn, S. J., Dufresne, A., Aranguren, M., Marcovich, N. E., Capadona, J. R., Rowan, S. J., Weder, C., Thielemans, W., Roman, M., Renneckar, S., Gindl, W., Veigel, S., Yano, H., Abe, K., Nogi, M. & Nakagaito, A. N., 2010, in: Journal of materials science. S. 1-33Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Saturation of Fragmentation During Severe Plastic Deformation
Pippan, R., Scheriau, S., Taylor, A., Hafok, M., Hohenwarter, A. & Bachmaier, A., 2010, in: Annual review of materials research. 40, S. 319-343Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Spröd-duktil-Übergang von ultra-feinkörnigem Eisen
Kammerhofer, C. N., 2010, 100 S.Publikationen: Thesis / Studienabschlussarbeiten und Habilitationsschriften › Diplomarbeit
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Stress, Sheet Resistance, and Microstructure Evolution of Electroplated Cu Films During Self-Annealing
Huang, R., Robl, W., Ceric, H., Detzel, T. & Dehm, G., 2010, in: IEEE transactions on device and materials reliability. 10, 1, S. 47-54Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Structural characterization of a Cu/MgO(001) interface using C S-corrected HRTEM
Cazottes, S., Zhang, Z. L., Daniel, R., Chawla, J. S., Gall, D. & Dehm, G., 2010, in: Thin solid films.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Structural characterization of a Cu/MgO(001) interface using CS-corrected HRTEM
Cazottes, S., Zhang, Z., Daniel, R., Chawla, J. S., Gall, D. & Dehm, G., 2010, in: Thin solid films. 519, S. 1662-1667Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Study of nanometer-scaled lamellar microstructure in a Ti-45Al-7.5Nb alloy-Experiments and modeling
Fischer, F. D., Waitz, T., Scheu, C., Cha, L., Dehm, G., Antretter, T. & Clemens, H., 2010, in: Intermetallics. 18, S. 509-517Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Studying radiation damage on structural materials using ion beam accelerators and small-scale materials testing
Hosemann, P., Was, G. S., Fluss, M., Hattar, K., Brewer, L. N., Kiener, D., Zhang, X., Wang, H., Shao, L. & Maloy, S. A., 2010Publikationen: Buch/Bericht › Forschungsbericht › Transfer › (peer-reviewed)