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  1. 2009
  2. Veröffentlicht

    Characterization of ZnO nanostructures: A challenge to positron annihilation spectroscopy and other methods

    Teichert, C., 2009.

    Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)

  3. Veröffentlicht

    Characterization of single ZnO nanorods by conductive atomic force microscopy

    Kratzer, M., Beinik, I., Teichert, C., Wang, L., Brauer, G. & Anwand, W., 2009.

    Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)

  4. Veröffentlicht

    Characterization of single ZnO nanorods by conductive atomic microscopy

    Teichert, C., 2009.

    Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)

  5. Veröffentlicht

    Charcterization of kraft pulp fiber surfaces using atomic force microscopy

    Schmied, F., Teichert, C., Kappel, L., Hirn, U. & Schennach, R., 2009.

    Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)

  6. Veröffentlicht

    Comparative AFM and SEM investigations on kraft pulp fiber surfaces

    Schmied, F., Teichert, C., Kappel, L., Hirn, U., Schennach, R. & Schröttner, H., 2009.

    Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)

  7. Veröffentlicht

    Conductive Atomic Force Microscopy investigations of organic thin films

    Pavitschitz, A., Beinik, I., Kratzer, M., Teichert, C., Schwabegger, G., Sitter, H., Simbrunner, C., Grießer, T. & Kern, W., 2009.

    Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)

  8. Veröffentlicht

    Conductive atomic force microscopy study of InAs growth kinetics on vicinal GaAs (110)

    Tejedor, P., Díez-Merino, L., Beinik, I. & Teichert, C., 2009, in: Applied physics letters. 95, S. 123103-1-123103-3

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  9. Veröffentlicht

    Defektbildung und Ladungsträgereinfang in epitaktisch gewachsenen organischen Nanostrukturen

    Teichert, C., 2009

    Publikationen: Buch/Bericht › Forschungsbericht › Transfer › (peer-reviewed)

  10. Veröffentlicht

    Domain Orientation Characterization of Para-sexiphenyl and Tiophene based SAM Films by Transverse Shear Microscopy

    Shen, Q., Hlawacek, G., Flesch, H-G., Potocar, T., Resel, R., Winkler, A. & Teichert, C., 2009.

    Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)

  11. Veröffentlicht

    Ehrlich Schwoebel barriers in organic thin film growth

    Teichert, C., 2009.

    Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)

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