Characterization of single ZnO nanorods by conductive atomic microscopy

Publikationen: KonferenzbeitragPosterForschung(peer-reviewed)

Organisationseinheiten

Details

Titel in ÜbersetzungCharacterization of single ZnO nanorods by conductive atomic microscopy
OriginalspracheEnglisch
StatusVeröffentlicht - 2009
VeranstaltungInternational Symposium Piezoresponse Microscopy and Nanoscale Phenomena in Polar Materials - Aeiro, Portugal
Dauer: 23 Juni 200927 Juni 2009

Konferenz

KonferenzInternational Symposium Piezoresponse Microscopy and Nanoscale Phenomena in Polar Materials
OrtAeiro, Portugal
Zeitraum23/06/0927/06/09