Conductive Atomic Force Microscopy investigations of organic thin films

Publikationen: KonferenzbeitragPosterForschung(peer-reviewed)

Autoren

  • I. Beinik
  • M. Kratzer
  • G. Schwabegger
  • H. Sitter
  • C. Simbrunner

Details

Titel in ÜbersetzungConductive Atomic Force Microscopy investigations of organic thin films
OriginalspracheEnglisch
StatusVeröffentlicht - 2009
Veranstaltung59. Jahrestagung der Österreichischen Physikalischen Gesellschaft - Innsbruck, Austria
Dauer: 2 Sept. 20094 Sept. 2009

Konferenz

Konferenz59. Jahrestagung der Österreichischen Physikalischen Gesellschaft
OrtInnsbruck, Austria
Zeitraum2/09/094/09/09