Domain Orientation Characterization of Para-sexiphenyl and Tiophene based SAM Films by Transverse Shear Microscopy
Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
Autoren
Organisationseinheiten
Details
| Titel in Übersetzung | Domain Orientation Characterization of Para-sexiphenyl and Tiophene based SAM Films by Transverse Shear Microscopy |
|---|---|
| Originalsprache | Englisch |
| Status | Veröffentlicht - 2009 |
| Veranstaltung | 59. Jahrestagung der Österreichischen Physikalischen Gesellschaft - Innsbruck, Austria Dauer: 2 Sept. 2009 → 4 Sept. 2009 |
Konferenz
| Konferenz | 59. Jahrestagung der Österreichischen Physikalischen Gesellschaft |
|---|---|
| Ort | Innsbruck, Austria |
| Zeitraum | 2/09/09 → 4/09/09 |
