Publikationen

  1. 1999
  2. Veröffentlicht

    Halbleiterdotieren mit Neutronen

    Kuchar, F., 1999, in: Spektrum der Wissenschaft. S. 80-84

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  3. Veröffentlicht

    Separation of Universal and Non-Universal Scaling Regions in the IQHE

    Meisels, R., Kuchar, F., Belitsch, W. & Kramer, B., 1999, in: Microelectronic engineering. 47, S. 23-25

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  4. 1998
  5. Veröffentlicht

    High-frequency conductivity experiments on the integer quantum Hall effect at the limits of universality

    Meisels, R., Kuchar, F., Belitsch, W., Hein, G. & Pierz, K., 1998, in: Physica B: Condensed Matter. 256-258, S. 74-77

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  6. Veröffentlicht

    Millimeterwave-Conductivity Experiments regarding Dynamical Scaling of the Integer Quantum Hall Effect

    Belitsch, W., Meisels, R., Kuchar, F., Hein, G. & Pierz, K., 1998, in: Physica B: Condensed Matter. 249-251, S. 199-202

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  7. Veröffentlicht

    Neutronen – Die Alchimisten in der Halbleitertechnik

    Kuchar, F., 1998, in: Physik in unserer Zeit. 29, S. 61-67

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  8. Veröffentlicht

    Topographical and structural investigations of phosphorous-doped silicon films

    Sorschag, K., Gold, H., Lutz, J., Kuchar, F., Pippan, M. & Noll, H., 1998, in: Applied physics / A (Series A, Materials science & processing). 66, S. 999-1002

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  9. Veröffentlicht

    Universality in the crossover between edge-channel and bulk transport in the quantum Hall regime

    Oswald, J., Span, G. & Kuchar, F., 1998, in: Physical review : B, Condensed matter and materials physics. 58, S. 15401-15404

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  10. 1997
  11. Veröffentlicht

    A structural and topographical study of low-pressure chemical-vapor-deposited polysilicon by scanning probe microscopy

    Pleschinger, A., Lutz, J. & Kuchar, F., 1997, in: Journal of applied physics. 81, S. 6749-6754

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

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