Publikationen

1 - 10 von 318Seitengröße: 10
rss feed
Sortieren nach: Titel
  1. Veröffentlicht

    µLaue: Compression studies on miniaturised Copper single crystals

    Kirchlechner, C., Kapp, M., Motz, C., Grosinger, W., Keckes, J., Micha, J.-S., Ulrich, O. & Dehm, G., 2011.

    Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)

  2. Veröffentlicht

    Zukunftsfonds Land Steiermark, Projekt Nr. 119

    Eiper, E., Keckes, J. & Pippan, R., 2006

    Publikationen: Buch/Bericht › Forschungsbericht › Transfer › (peer-reviewed)

  3. Veröffentlicht

    Zerstörungsfreie Charakterisierung von Furnieren für strukturelle Verbundwerkstoffe: Evaluierung von Methoden und Einflussfaktoren Maximilian

    Pramreiter, M., Bodner, S. C., Keckes, J., Stadlmann, A., Konnerth, J., Feist, F., Baumann, G., Huber, C. & Müller, U., 2021, in: Holztechnologie. 62.2021, 1, S. 5-18 13 S.

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  4. Veröffentlicht

    X-ray nanodiffraction reveals stress distribution across an indented multilayered CrN-Cr thin film

    Steffenelli, M., Daniel, R., Ecker, W., Kiener, D., Todt, J., Zeilinger, A., Mitterer, C., Burghammer, M. & Keckes, J., 2015, in: Acta materialia. 85, S. 24-31

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  5. Veröffentlicht

    X-ray nanodiffraction reveals strain and microstructure evolution in nanocrystalline thin films

    Keckes, J., Bartosik, M., Daniel, R., Mitterer, C., Maier, G. A., Ecker, W., Vila-Comamala, J., David, C., Schoeder, S. & Burghammer, M., 2012, in: Scripta materialia. 67, S. 748-751

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  6. Veröffentlicht

    X-ray nanodiffraction analysis of stress oscillations in a W thin film on through-silicon via

    Todt, J., Hammer, H., Sartory, B., Burghammer, M., Kraft, J., Daniel, R., Keckes, J. & Defregger, S., 2016, in: Journal of applied crystallography. 49, S. 182-187 6 S.

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  7. Elektronische Veröffentlichung vor Drucklegung.

    X-ray nanodiffraction analysis of residual stresses in polysilicon electrodes of vertical power transistors

    Karner, S., Blank, O., Rösch, M., Burghammer, M., Zalesak, J., Keckes, J. & Todt, J., 20 Juni 2022, (Elektronische Veröffentlichung vor Drucklegung.) in: Materialia. 24.2022, August, 6 S., 101484.

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  8. Veröffentlicht

    X-ray elastic constants determined by the combination of the sin² psi and substrate-curvature methods

    Eiper, E., Martinschitz, K.-J., Gerlach, J. W., Lackner, J. M., Zizak, I., Darowski, N. & Keckes, J., 2005, in: Zeitschrift für Metallkunde : international journal of materials research and advanced techniques. 96, S. 1069-1073

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  9. Veröffentlicht

    X-ray diffraction analysis of three-dimensional residual stress fields reveals origins of thermal fatigue in uncoated and coated steel

    Kirchlechner, C., Martinschitz, K. J., Daniel, R., Mitterer, C., Donges, J., Rothkirch, A., Klaus, M., Genzel, C. & Keckes, J., 2010, in: Scripta materialia. 62, S. 774-777

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  10. Veröffentlicht

    X-ray analysis of residual stress gradients in TiN coatings by a Laplace space approach and cross-sectional nanodiffraction: a critical comparison

    Steffenelli, M., Todt, J., Riedl, A., Ecker, W., Müller, T., Daniel, R., Burghammer, M. & Keckes, J., 2013, in: Journal of applied crystallography. 46, S. 1-8

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

Vorherige 1 2 3 4 5 6 7 8 ...32 Nächste

Erweiterte Suche

Alle Verfasser/-innen

Zurücksetzen

Bis
Filter zurücksetzen