Publikationen

  1. 2008
  2. Veröffentlicht

    Thermal decomposition routes of CrN hard coatings synthesized by reactive arc evaporation and magnetron sputtering

    Ernst, W., Neidhardt, J., Willmann, H., Sartory, B., Mayrhofer, P. H. & Mitterer, C., 2008, in: Thin solid films. 517, S. 568-574

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  3. Veröffentlicht

    Titanium doped CVD alumina coatings

    Hochauer, D., Mitterer, C., Penoy, M., Michotte, C., Martinz, H-P. & Kathrein, M., 2008, in: Surface & coatings technology. 203, S. 350-356

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  4. Veröffentlicht

    Transmission electron microscopy of nanocomposite Cr-B-N thin films

    Hegedüs, E., Kovács, I., Pecz, B., Toth, L., Budna, K. & Mitterer, C., 2008, in: Vacuum. 82, S. 209-213

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  5. Veröffentlicht

    Tribological behavior of TiN/Ag nanocomposite coatings

    Köstenbauer, H., Fontalvo, G., Mitterer, C. & Keckes, J., 2008, in: Tribology Letters. S. 53-60

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  6. Veröffentlicht

    Tribological behavior of sputtered CrAlNbN hard coatings at elevated temperatures

    Fontalvo, G. & Mitterer, C., 2008, Proceedings of CIST 2008. S. 1-2

    Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in Konferenzband

  7. Veröffentlicht

    Tribological properties of reactive magnetron sputtered V2O5 and VN-V2O5 coatings

    Fateh, N., Fontalvo, G. & Mitterer, C., 2008, in: Tribology Letters. 30, S. 21-26

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  8. 2007
  9. Veröffentlicht

    A Comparison of the Electronic Structure of N-K in TiN and VN using EELS and ab-initio Calculations

    Rashkova, B., Kothleitner, G., Sturm, S., Scheu, C., Kutschej, K., Mitterer, C., Lazar, P., Redinger, J., Podloucky, R. & Dehm, G., 2007, Microscopy and Microanalysis. S. 414-415

    Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in Konferenzband

  10. Veröffentlicht

    A direct method of determining complex depth profiles of residual stresses in thin films on a nanoscale

    Massl, S., Keckes, J. & Pippan, R., 2007, in: Acta materialia. 55, S. 4835-4844

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  11. Veröffentlicht
  12. Veröffentlicht