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  1. 2010
  2. Veröffentlicht

    Combined structure-factor phase measurement and theoretical calculations for mapping of chemical bonds in GaN

    Jiang, B., Zuo, J. M., Holec, D., Humphreys, C. J., Spackman, M. & Spence, C. H., 2010, in: Acta crystallographica / A (Section A, Foundations of crystallography). S. 446-450

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  3. Veröffentlicht

    Development of intrinsic and thermal components of residual stress in nanostructured thin films: Grain size dependent phenomena

    Daniel, R., Keckes, J. & Mitterer, C., 2010, Proceedings 8th European Conference on Residual Stresses. S. 15-15

    Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband

  4. Veröffentlicht

    Effect of Grain Size on the Residual Stress State and Thermal Expansion in Magnetron Sputtered Thin Films

    Daniel, R., Holec, D., Keckes, J. & Mitterer, C., 2010, Proceedings 37th International Conference on Metallurgical Coatings and Thin Films. S. 63-63

    Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband

  5. Veröffentlicht

    Imaging dislocations in gallium nitride across broad areas using atomic force microscopy

    Bennett, S. E., Holec, D., Kappers, M. J., Humphreys, C. J. & Oliver, R. A., 2010, in: Review of scientific instruments. S. 0637011-0637017

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  6. Veröffentlicht

    In situ μLaue tensile tests on micron sized Cu single crystals

    Kirchlechner, C., Imrich, P., Grosinger, W., Kapp, M., Motz, C., Keckes, J. & Dehm, G., 2010.

    Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)

  7. Veröffentlicht

    Influence of Nb on the phase stability of Ti-Al-N

    Mayrhofer, P. H., Rachbauer, R. & Holec, D., 2010, in: Scripta materialia. 63, S. 807-810

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  8. Veröffentlicht

    Methodology for studying strain inhomogeneities in polycrystalline thin films during in situ thermal loading using coherent x-ray diffraction

    Vaxelaire, N., Proudhon, H., Labat, S., Kirchlechner, C., Keckes, J., Jaques, V., Ravy, S., Forest, S. & Thomas, O., 2010, in: New journal of physics. S. 1-12

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  9. Veröffentlicht

    Modelling of stresses in polycrystalline materials: The origin and redistribution of stresses in NiTi

    Holec, D., 2010

    Publikationen: Buch/Bericht › Buch › Forschung

  10. Veröffentlicht

    Multi-scale modelling of III-nitrides:Selected topics from dislocations to the electronic structure

    Holec, D., 2010

    Publikationen: Buch/Bericht › Buch › Forschung

  11. Veröffentlicht

    Nano-Beam X-ray Diffraction Reveals Structural and Mechanical Gradients in Nano-Crystalline Thin Films

    Keckes, J., Bartosik, M., Daniel, R., Mitterer, C., Maier, G., Schoeder, S. & Burghammer, M., 2010.

    Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)

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