Methodology for studying strain inhomogeneities in polycrystalline thin films during in situ thermal loading using coherent x-ray diffraction
Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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| Titel in Übersetzung | Methodology for studying strain inhomogeneities in polycrystalline thin films during in situ thermal loading using coherent x-ray diffraction |
|---|---|
| Originalsprache | Englisch |
| Seiten (von - bis) | 1-12 |
| Fachzeitschrift | New journal of physics |
| Status | Veröffentlicht - 2010 |
