Publikationen

  1. 2014
  2. Veröffentlicht

    Sample tilt-free characterization of residual stress gradients in thin coatings using an in-plane arm-equipped laboratory X-ray diffractometer

    Benediktovitch, A. I., Ulyanenkova, T., Keckes, J. & Ulyanenkov, A. P., 2014, in: Journal of applied crystallography. S. 1931-938

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  3. Veröffentlicht

    Sputtered molybdenum films: structure and property evolution with film thickness

    Hofer, A. M., Schlacher, J., Keckes, J., Winkler, J. & Mitterer, C., 2014, in: Vacuum. 99, S. 149-152

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  4. Veröffentlicht
  5. Veröffentlicht

    Superior oxidation resistance, mechanical properties and residual stresses of an Al-rich nanolamellar Ti0.05Al0.95N coating prepared by CVD

    Todt, J., Pitonak, R., Köpf, A., Weißenbacher, R., Sartory, B., Burghammer, M., Daniel, R., Schöberl, T. & Keckes, J., 2014, in: Surface & coatings technology. 258.2014, November, S. 1119-1127

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  6. Veröffentlicht

    Thermal expansion and elasticity of metastable cubic B1-AlN

    Bartosik, M., Holec, D., Todt, M., Todt, J., Rammerstorfer, F. G. & Mayrhofer, P. H., 2014.

    Publikationen: KonferenzbeitragPosterForschung(peer-reviewed)

  7. Veröffentlicht

    Virtual process design for highly reliable cold formed components

    Schratter, S., Keckes, J. & Buchmayr, B., 2014,

    International Science & Technology Congress OMD 2014

    .
    S. 1-10

    Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in Konferenzband

  8. 2013
  9. Veröffentlicht

    Advanced cross-sectional characterization of hard coatings

    Tkadletz, M., Mitterer, C., Keckes, J., Rebelo De Figueiredo, M., Hosemann, P., Burghammer, M., Sartory, B. & Czettl, C., 2013.

    Publikationen: KonferenzbeitragPosterForschung(peer-reviewed)

  10. Veröffentlicht

    Bias- and temperature-dependent strain evolution across nanocrystalline TiAlN films studied by X-ray nanodiffraction

    Riedl, A., Todt, J., Daniel, R., Steffenelli, M., Holec, D., Krywka, C., Mitterer, C. & Keckes, J., 2013.

    Publikationen: KonferenzbeitragPosterForschung(peer-reviewed)

  11. Veröffentlicht

    Cross-sectional X-ray nanobeam diffraction analysis of a compositionally graded CrNx thin film

    Bartosik, M., Daniel, R., Mitterer, C., Matko, I., Burghammer, M., Mayrhofer, P. H. & Keckes, J., 2013, in: Thin solid films. 542, S. 1-4

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  12. Veröffentlicht

    Diffusion studies in epitaxial TiN/Cu layers on MgO(001)

    Mühlbacher, M., Sartory, B., Keckes, J., Lu, J., Hultman, L. & Mitterer, C., 2013.

    Publikationen: KonferenzbeitragPosterForschung(peer-reviewed)