Publikationen

  1. 2016
  2. Veröffentlicht
  3. Veröffentlicht

    X-ray nanodiffraction analysis of stress oscillations in a W thin film on through-silicon via

    Todt, J., Hammer, H., Sartory, B., Burghammer, M., Kraft, J., Daniel, R., Keckes, J. & Defregger, S., 2016, in: Journal of applied crystallography. 49, S. 182-187 6 S.

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  4. 2015
  5. Veröffentlicht

    Ab initio studies on the adsorption and implantation of Al and Fe to nitride materials

    Riedl, H., Zalesak, J., Arndt, M., Polcik, P., Holec, D. & Mayrhofer, P. H., 25 Sept. 2015, in: Journal of applied physics. 118.2015, 12, S. 125306 8 S.

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  6. Veröffentlicht

    Experimental Characterization and Modeling of Residual Stress Grandiens across Straight and Bent Seamless Steel Tubes

    Winter, G., Klarner, J., Staron, P., Buchmayr, B. & Keckes, J., 16 Apr. 2015, S. 231 - 236.

    Publikationen: KonferenzbeitragVortragForschung

  7. Veröffentlicht

    Virtual process design for cold formed components

    Schratter, S., Keckes, J., Winter, G. & Buchmayr, B., 16 Apr. 2015, Material Forming ESAFORM 2015. Trans Tech Publications, S. 1279 - 1284 (Key Engineering Materials ; Band Vol 651-653).

    Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in Konferenzband

  8. Veröffentlicht
  9. Veröffentlicht

    Copper diffusion into single-crystalline TiN studied by transmission electron microscopy and atom probe tomography

    Mühlbacher, M., Mendez Martin, F., Sartory, B., Schalk, N., Keckes, J., Lu, J., Hultman, L. & Mitterer, C., 2015, in: Thin solid films. 574, S. 103-109

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  10. Veröffentlicht

    Determination of residual stresses and fracture properties on a local scale

    Kiener, D., Treml, R., Kozic, D., Brunner, R., Keckes, J. & Zechner, J., 2015.

    Publikationen: KonferenzbeitragVortragForschung(peer-reviewed)

  11. Veröffentlicht
  12. Veröffentlicht

    Evaluation of TiN diffusion barrier layers with different microstructures by transmission electron microscopy and atom probe tomography

    Mühlbacher, M., Mendez Martin, F., Sartory, B., Chitu, L., Lu, J., Schalk, N., Keckes, J., Hultman, L. & Mitterer, C., 2015.

    Publikationen: KonferenzbeitragVortragForschung(peer-reviewed)