Publikationen

  1. 2010
  2. Veröffentlicht
  3. Veröffentlicht

    KKKÖ Meeting

    Dehm, G., 2010

    Publikationen: Buch/BerichtForschungsberichtTransfer(peer-reviewed)

  4. Veröffentlicht
  5. Veröffentlicht

    Micron-sized fracture experiments on amorphous SiOx films and SiOx/SiNx multi-layers

    Matoy, K., Schönherr, H., Detzel, T. & Dehm, G., 2010, in: Thin solid films. 518, S. 5796-5801

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  6. Veröffentlicht

    Microplasticity phenomena in thermomechanically strained nickel thin films

    Taylor, A., Oh, S. H. & Dehm, G., 2010, in: Journal of materials science. 45, S. 3874-3881

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  7. Veröffentlicht

    Mitigating Focused Ion Beam Damage in Molybdenum Nanopillars by In Situ Annealing

    Lowry, M. B., Kiener, D., Le Blanc, B. B., Chisholm, C., Florando, J. N., Morris, J. W. J. & Minor, A. M., 2010, in: Microscopy and microanalysis. 16, S. 1748-1749

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  8. Veröffentlicht

    Perylene-Labeled Silica Nanoparticles: Synthesis and Characterization of Three Novel Silica Nanoparticle Species for Live-Cell Imaging

    Blechinger, J., Herrmann, R., Kiener, D., Garcia-Garcia, F. J., Scheu, C., Reller, A. & Bräuchle, C., 2010, in: Small. 6, S. 2427-2435

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  9. Veröffentlicht

    Quantitative uniaxial in situ testing of Cu in a TEM

    Kiener, D., 2010.

    Publikationen: KonferenzbeitragPosterForschung(peer-reviewed)

  10. Veröffentlicht

    Stress, Sheet Resistance, and Microstructure Evolution of Electroplated Cu Films During Self-Annealing

    Huang, R., Robl, W., Ceric, H., Detzel, T. & Dehm, G., 2010, in: IEEE transactions on device and materials reliability. 10, 1, S. 47-54

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  11. Veröffentlicht

    Structural characterization of a Cu/MgO(001) interface using C S-corrected HRTEM

    Cazottes, S., Zhang, Z. L., Daniel, R., Chawla, J. S., Gall, D. & Dehm, G., 2010, in: Thin solid films.

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)