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  1. 2004
  2. Veröffentlicht

    Morphology and growth kinetic of organic thin films deposited by hot wall epitaxy

    Andreev, A., Teichert, C., Hlawacek, G., Hoppe, H., Resel, R., Smilgies, D-M., Sitter, H. & Sariciftci, N. S., 2004, in: Organic electronics. 5, S. 23-27

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  3. Veröffentlicht

    Nanostructure formation on ion-eroded SiGe film surfaces

    Hofer, C., Teichert, C. & Kasper, E., 2004, in: Superlattices and microstructures. 36, S. 281-291

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  4. Veröffentlicht

    Oriented sexiphenyl single crystal nanoneedles on TiO2 (110)

    Koller, G., Berkebile, S., Krenn, J. R., Tzvetkov, G., Hlawacek, G., Lengyel, O., Netzer, F. P., Teichert, C., Resel, R. & Ramsey, M. G., 2004, in: Advanced materials. 16, S. 2159-2162

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  5. Veröffentlicht

    Pattern formation in para-quaterphenyl film growth on gold substrates

    Hlawacek, G., Teichert, C., Müllegger, S., Resel, R. & Winkler, A., 2004, in: Synthetic Metals. 146, S. 383-386

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  6. Veröffentlicht

    Structure and morphology of sexiphenyl thin films grown on aluminium (111)

    Resel, R., Salzmann, I., Hlawacek, G., Teichert, C., Koppelhuber, B., Winter, B., Krenn, J. K., Ivanco, J. & Ramsey, M. G., 2004, in: Organic electronics. 5, S. 45-51

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  7. Veröffentlicht

    The manipulation of thin film layer growth of quaterphenyl on Au(111)

    Winkler, A., Müllegger, S., Salzmann, I., Resel, R., Hlawacek, G. & Teichert, C., 2004, Symposium on Surface Science 2004. S. 163-164

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  8. 2003
  9. Veröffentlicht

    Modification and characterization of thin silicon gate oxides using conducting atomic force microscopy

    Kremmer, S., Peissl, S., Teichert, C., Kuchar, F. & Hofer, C., 2003, in: Materials science and engineering B (Solid-state materials for advanced technology). 102, S. 88-93

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  10. Veröffentlicht

    Molecular alignments in sexiphenyl thin films epitaxially grown on muscovite

    Plank, H., Resel, R., Sitter, H., Andreev, A., Sariciftci, N. S., Hlawacek, G., Teichert, C., Thierry, A. & Lotz, B., 2003, in: Thin solid films. 443, S. 108-114

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  11. 2002
  12. Veröffentlicht

    35th IUVSTA Workshop “Pattern Formation and Atomic Processes in Epitaxial Growth and Ion Erosion”

    Teichert, C. (Hrsg.), 2002, Eigenverlag.

    Publikationen: Buch/Bericht › Sammelband › Forschung

  13. Veröffentlicht

    Characterization of silicon gate oxides by conducting atomic-force microscopy

    Kremmer, S., Teichert, C., Pischler, E., Gold, H., Kuchar, F. & Schatzmayr, M., 2002, in: Surface and interface analysis. 33, S. 168-172

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