Residual stresses and strains in thin films characterized by the combination of sin2ψ and substrate curvature methods
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Autoren
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Details
| Titel in Übersetzung | Residual stresses and strains in thin films characterized by the combination of sin2ψ and substrate curvature methods |
|---|---|
| Originalsprache | Englisch |
| Status | Veröffentlicht - 2006 |
| Veranstaltung | Gordon Research Conference on thin film & small scale mechanical behavior 2006 - Waterville, USA / Vereinigte Staaten Dauer: 30 Juli 2006 → 4 Aug. 2006 |
Konferenz
| Konferenz | Gordon Research Conference on thin film & small scale mechanical behavior 2006 |
|---|---|
| Land/Gebiet | USA / Vereinigte Staaten |
| Ort | Waterville |
| Zeitraum | 30/07/06 → 4/08/06 |
