Residual stresses and strains in thin films characterized by the combination of sin2ψ and substrate curvature methods

Publikationen: KonferenzbeitragPosterForschung(peer-reviewed)

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Titel in ÜbersetzungResidual stresses and strains in thin films characterized by the combination of sin2ψ and substrate curvature methods
OriginalspracheEnglisch
StatusVeröffentlicht - 2006
VeranstaltungGordon Research Conference on thin film & small scale mechanical behavior 2006 - Waterville, USA / Vereinigte Staaten
Dauer: 30 Juli 20064 Aug. 2006

Konferenz

KonferenzGordon Research Conference on thin film & small scale mechanical behavior 2006
Land/GebietUSA / Vereinigte Staaten
OrtWaterville
Zeitraum30/07/064/08/06